Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana Aparatura badawcza i przemysłowa ≻ Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana
Zdjęcie produktu Kategoria:
Spektrometry FT-IR
Zdjęcie produktu Kategoria:
Mikroskopy FT-IR oraz QCL-IR
Zdjęcie produktu Kategoria:
Spektrometry FT-NIR
Zdjęcie produktu Kategoria:
Spektrometry procesowe FT-IR/NIR
Zdjęcie produktu Kategoria:
Spektrometry Ramana
Zdjęcie produktu Kategoria:
Mikroskopy Ramana
Zdjęcie produktu Kategoria:
Analizatory gazów

Producent:

Tagi:

bruker kontrola jakości spektrometr FT-NIR analiza przemysłowa szybkie pomiary próbek ciekłych i stałych analiza w czasie rzeczywistym Analizator gazów FT-IR monitorowanie gazów przemysłowych analiza ilościowa związków gazowych pomiary w wysokim ciśnieniu mikroskop Ramana szybka akwizycja danych analiza chemiczna 2D/3D obrazowanie topografii powierzchni laboratorium przemysł RamanTouch obrazowanie 3D mikroskop Ramanowski analiza spektralna analiza chemiczna badania naukowe szybka i zautomatyzowana akwizycja danych spektrometr Ramana szybka i czuła akwizycja danych praca w laboratoriach i przemyśle Ręczny spektrometr Ramana szybka identyfikacja surowców analiza materiałów w laboratoriach i przemyśle obrazowanie chemiczne analiza materiałów mikroskop FTIR QCL analizator FT-NIR badania laboratoryjne analiza próbek ciekłych i stałych automatyzacja pomiarów mikroskop FTIR analiza próbek ciekłych stałych i gazowych spektrometr FT-IR badania analityczne i naukowe pomiary wysokorozdzielcze i szybkie analiza próbek w różnych zakresach spektralnych środowisko analizator gazów MGA monitoring powietrza gazy cieplarniane MATRIX-MF automatyzacja monitorowanie procesów Process Guardian Raman spektrometr Ramanowski precyzyjna analiza chemiczna monitoring procesów online/inline laboratoria i przemysł ATEX/IECEx wysoka czułość i szybka akwizycja danych MultiRAM analiza materiałowa spektroskopia Raman moduł FT-Raman analiza półprzewodników analiza procesowa MATRIX-F II INVENIO ALPHA II BEAM MATRIX MG II analiza gazów
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-IR ALPHA II - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-IR INVENIO - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-IR VERTEX - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-IR MATRIX MF - Bruker 
Zdjęcie produktu Mikroskop FT-IR LUMOS II - Bruker
Zdjęcie produktu Mikroskop FTIR QCL HYPERION II - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-NIR TANGO II - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-NIR MPA III - Bruker
Zdjęcie produktu Kompaktowy spektrometr procesowy FT-NIR BEAM – Bruker
1 2 3

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

 
 

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn