System Quantax Micro-XRF – Bruker
System Quantax Micro-XRF z źródłem XTrace firmy Bruker to innowacyjne rozwiązanie, które rozszerza możliwości skaningowych mikroskopów elektronowych o funkcjonalność kompletnego spektrometru mikro-XRF. Instalowany w większości mikroskopów SEM posiadających wolny, nachylony port, system XTrace otwiera nowe perspektywy analityczne, łącząc zalety wzbudzania elektronowego i rentgenowskiego w jednym urządzeniu.
Sercem systemu jest zaawansowana wielokapilarna optyka promieniowania X, która umożliwia generację fluorescencji o wysokiej intensywności na bardzo małych obszarach próbki:
Precyzyjne skupienie wiązki – optyka zbiera promieniowanie z dużego kąta bryłowego i skupia je w plamce o średnicy do 35 mikrometrów dla promieniowania Mo-K.
Znacząca poprawa czułości – w porównaniu do wzbudzania elektronami, możliwości detekcji pierwiastków śladowych zostały poprawione od 20 do 50 razy.
Większa głębokość analizy – promieniowanie X dostarcza informacji z większej głębokości niż elektrony, umożliwiając badanie próbek o większych rozmiarach i analizę warstw podpowierzchniowych.
Redukcja tła – wysoka intensywność generowana przez optykę i redukcja tła spektrum służą zwiększeniu czułości systemu na pierwiastki śladowe.
System Quantax XTrace został zaprojektowany do bezproblemowej współpracy z istniejącą konfiguracją EDS:
Generowane spektrum fluorescencji jest mierzone za pomocą załączonego detektora SDD XFlash® wchodzącego w skład systemu Quantax EDS, co zapewnia doskonałą rozdzielczość energetyczną i szybkość zliczeń do około 40 000 cps dla metali.
System oferuje możliwość prowadzenia skorelowanych analiz za pomocą jednego interfejsu użytkownika (oprogramowanie ESPRIT), zapewniając optymalne rezultaty, które są lepsze niż w przypadku zastosowania każdej z metod oddzielnie.
Połączenie informacji z różnych głębokości (EDS – warstwa wierzchnia, XRF – głębsze warstwy) pozwala na pełniejszą i dokładniejszą analizę materiałów, w tym wielowarstwowych struktur.
Szybkość i wydajność – szybkość zliczeń do 40 000 cps dla metali przyspiesza akwizycję danych.
Lepsza detekcja pierwiastków śladowych – poprawa czułości od 20 do 50 razy w porównaniu do standardowego EDS.
Analiza większych próbek – większa głębokość wnikania promieniowania X umożliwia badanie próbek niedostępnych dla samego EDS.
Możliwość analizy warstw – z opcjonalnym oprogramowaniem XMETHOD Layer, system umożliwia nieniszczący pomiar grubości powłok.
Efektywne wykorzystanie istniejącego sprzętu – system instaluje się w wolnym porcie SEM, rozszerzając funkcjonalność bez konieczności zakupu osobnego spektrometru micro-XRF.
Stałe, cząstki, materiały sypkie, próbki biologiczne
Metalowo-ceramiczna lampa rentgenowska o wysokiej jasności z polikapilarną optyką
Rh (standard), opcjonalnie: Mo, W
Max. 50 kV, 600 μA (30 W)
Rozmiar plamki < 40 μm dla Mo-Kα
100 μm Al, 20 μm Ti, 10 μm Ni (inne filtry dostępne na żądanie)
XFlash® SDD (wymaga systemu Quantax EDS)
Do około 40 000 cps
30 mm²
300 x 250 x 140 mm
11 kg
100-240 V AC (1-fazowe), 50/60 Hz
CE, ISO 9001:2008, pełna ochrona przed promieniowaniem (promieniowanie < 1 μSv/h)
System XTrace jest w pełni zintegrowany z oprogramowaniem Bruker ESPRIT, które zapewnia:
XMETHOD Layer – grubość powłok dla XTRACE to opcjonalny moduł oprogramowania rozszerzający możliwości systemu o nieniszczący pomiar grubości powłok:
Pomiar grubości powłok – nieniszcząca analiza różnych rodzajów próbek bez wstępnego przygotowania.
Jednoczesne określenie składu warstwy – analiza składu chemicznego w tym samym pomiarze.
Przykłady zastosowań – styki złączy, nierówności lutownicze na płytkach PCB, nośniki mikroukładów, powłoki na ogniwach słonecznych, powłoki antykorozyjne.
Analiza pojedynczych i wielu warstw – zdolność promieni X do przenikania w głąb próbki umożliwia badanie struktur wielowarstwowych.
Główna różnica leży w sposobie wzbudzania i głębokości analizy. W EDS wzbudzenie następuje za pomocą wiązki elektronów, która analizuje jedynie bardzo cienką warstwę wierzchnią (nm-μm). W przypadku XTrace, wzbudzenie następuje za pomocą wiązki promieniowania X, która wnika znacznie głębiej (nawet kilkadziesiąt μm), dostarczając informacji z większej objętości próbki. Dzięki temu XRF jest czulsze na pierwiastki śladowe i lepiej nadaje się do analizy próbek o nieregularnej powierzchni lub warstw podpowierzchniowych.
W porównaniu do standardowej analizy EDS, zastosowanie wzbudzania XRF z źródłem XTrace poprawia możliwości detekcji pierwiastków śladowych od 20 do 50 razy. Jest to możliwe dzięki znaczącej redukcji tła promieniowania (bremsstrahlung) generowanego przez elektrony oraz wyższej intensywności wzbudzania dla niektórych pierwiastków.
System XTrace może być instalowany w większości mikroskopów SEM posiadających wolny, nachylony port. Przed instalacją zalecamy konsultację z naszymi ekspertami, którzy zweryfikują kompatybilność z konkretnym modelem mikroskopu. System jest zaprojektowany tak, aby nie kolidować z istniejącymi detektorami (np. EDS, EBSD).
Nie, dodatkowy komputer nie jest wymagany. System XTrace jest w pełni zintegrowany z istniejącym systemem Quantax EDS i wykorzystuje ten sam komputer PC do sterowania i akwizycji danych. Wszystkie funkcje dostępne są z poziomu jednego interfejsu oprogramowania ESPRIT, co znacznie upraszcza pracę i umożliwia skorelowane analizy EDS/XRF.
Moduł XMETHOD Layer jest idealny do nieniszczącego pomiaru grubości i składu powłok. Znajduje zastosowanie w:
System XTrace spełnia najwyższe standardy bezpieczeństwa i posiada certyfikaty CE oraz ISO 9001:2008. Dzięki pełnej osłonie ochronnej, poziom promieniowania poza obudową jest poniżej 1 μSv/h, co jest wartością niższą od naturalnego tła i całkowicie bezpieczną dla operatora.
System Quantax Micro-XRF z źródłem XTrace firmy Bruker to innowacyjne i kompaktowe rozwiązanie, które w znaczący sposób rozszerza możliwości analityczne skaningowego mikroskopu elektronowego. Dzięki unikalnej technologii wielokapilarnej optyki, skupiającej wiązkę promieniowania X do plamki poniżej 40 μm, system oferuje nawet 50-krotną poprawę detekcji pierwiastków śladowych w porównaniu do standardowego EDS, przy jednoczesnym zachowaniu wysokiej rozdzielczości przestrzennej. Pełna integracja z detektorem XFlash® i oprogramowaniem ESPRIT pozwala na prowadzenie skorelowanych analiz mikro-XRF i EDS z jednego interfejsu, dostarczając kompleksowych informacji o składzie chemicznym próbki, zarówno z warstwy wierzchniej, jak i z głębszych struktur. Opcjonalny moduł XMETHOD Layer rozszerza funkcjonalność systemu o nieniszczący pomiar grubości powłok, co czyni XTrace niezwykle wszechstronnym narzędziem w kontroli jakości, badaniach materiałowych i analizie failure analysis w przemyśle elektronicznym, motoryzacyjnym, lotniczym i wielu innych.
Poniżej znajdują się rekomendowane akcesoria i materiały eksploatacyjne niezbędne do prawidłowego przechowywania, transportu i przygotowania próbek do analiz w mikroskopii elektronowej i mikro-XRF, dostępne w naszym sklepie MICRO SHOP:
Kompaktowy eksykator idealny do przechowywania i transportu próbek wrażliwych na wilgoć, w tym materiałów biologicznych i higroskopijnych. Zapewnia stabilne, suche środowisko.
Praktyczny pojemnik do bezpiecznego przechowywania i transportu stolików typu pin-stub (standardowych w SEM). Wykonany z antystatycznych materiałów, chroni próbki przed uszkodzeniami i zanieczyszczeniami.
Wysokiej jakości pudełka do przechowywania próbek od renomowanego producenta Agar Scientific. Dostępne w różnych rozmiarach, idealne do organizacji i archiwizacji preparatów.
W naszej ofercie znajdują się również inne akcesoria niezbędne do kompleksowego przygotowania i analizy próbek:
Stoliki SEM (pin-stuby) – różne średnice i materiały (aluminiowe, miedziane, węglowe)
Taśmy i pasty przewodzące – do mocowania próbek i odprowadzania ładunku
Wzorce kalibracyjne – do sprawdzania wydajności i kalibracji systemów EDS/XRF
Narzędzia preparacyjne – pęsety, skalpele, młynki do próbek
Copyright © 2026 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions
