Detektor EDS XFlash®7 dla mikroskopii elektronowej SEM oraz FIB – Bruker
Najnowsza generacja QUANTAX EDS firmy Bruker z serią detektorów XFlash®7 wyznacza standardy wydajności i funkcjonalności w analizie EDS. System oferuje zoptymalizowane rozwiązania do analizy próbek przezroczystych dla elektronów w TEM i SEM, a także unikalny detektor XFlash® FlatQUAD, stworzony do analizy najbardziej wymagających próbek, łącząc najwyższą wydajność widmową z najlepszą rozdzielczością energetyczną.
Największy kąt bryłowy – detektory 7 serii XFlash®7 oferują największy kąt bryłowy zbierania promieniowania rentgenowskiego (tzw. kąt zbierania) oraz najwyższą przepustowość.
Unikatowy detektor FlatQUAD – rekordowe i najszybsze możliwe pomiary EDS przy użyciu pojedynczego detektora EDS, dzięki czterookienkowej konstrukcji umieszczanej między nabiegunnikiem a próbką.
Zaawansowane algorytmy ilościowe – unikalne połączenie metod bezwzorcowych i opartych na wzorcach zapewnia najwyższą dokładność analizy.
Najwyższa elastyczność – szeroka gama rozmiarów detektorów (30, 60 i 100 mm²) oraz opcji okienek oferuje idealne rozwiązania do mikro- i nanoanalizy.
Potencjał jednego zintegrowanego software’u ESPRIT – wspólna platforma dla wszystkich detektorów z rodziny Bruker, zapewniająca spójność i efektywność analiz.
Umożliwia osiąganie niezwykłej szybkości pomiarów, skracając czas analizy do minimum i zwiększając przepustowość laboratorium.
Wykorzystanie najbardziej kompleksowej bazy pierwiastkowej do analizy, wliczając linie K, L, M oraz N, co gwarantuje precyzyjną identyfikację nawet złożonych składów.
Zoptymalizowana geometria zapewnia największy na rynku kąt zbierania sygnału z próbki, maksymalizując wydajność detekcji przy niskich prądach wiązki.
30, 60 i 100 mm² powierzchni aktywnej detektora oferuje idealne rozwiązanie dla mikroanalizy oraz wymagającej nanoanalizy, pozwalając na optymalne dopasowanie do konkretnych zastosowań.
XFlash® FlatQUAD to rewolucyjny, czterookienkowy detektor umieszczany między nabiegunnikiem SEM a próbką, zapewniający maksymalny możliwy kąt bryłowy:
Niezrównana wydajność mapowania – nawet dla najtrudniejszych próbek o skomplikowanej topografii.
Rekordowo szybkie pomiary – najszybsze możliwe pomiary EDS przy użyciu pojedynczego detektora.
Pełna integracja z ESPRIT – w połączeniu z pakietem oprogramowania analitycznego ESPRIT tworzy najbardziej zaawansowany system do analizy EDS.
Do 1,000,000 cps – najwyższa w swojej klasie przepustowość.
Ponad 2,200 linii (K, L, M, N) – najbardziej kompleksowa baza do analizy.
Do 1.1 sr – największy na rynku kąt zbierania sygnału.
30, 60 i 100 mm² – idealna dla mikro- i nanoanalizy.
Czterookienkowy detektor między nabiegunnikiem a próbką – maksymalny kąt bryłowy.
Wysokoprecyzyjny slider z zintegrowanym silnikiem dla dokładnego pozycjonowania.
Ulepszona geometria radiatora dla stabilnych warunków pomiarów.
SEM, FIB-SEM, EPMA, TEM (dla próbek przezroczystych).
Wszystkie rozdzielczości określone zgodnie z normą ISO 15632:2012, gwarantującą porównywalność i wiarygodność parametrów.
Innowacyjna technologia slim-line została zaprojektowana dla jeszcze większej liczby zliczeń i niższych prądów wiązki:
Najmniejsza na rynku odległość detektora do próbki – zapewnia maksymalny kąt bryłowy w mikroskopach SEM i FIB-SEM, co przekłada się na wyższą wydajność zbierania sygnału.
Większa liczba zliczeń przy niższych prądach wiązki – kluczowe dla analizy próbek wrażliwych na uszkodzenia elektronowe oraz przy pracy z wysoką rozdzielczością przestrzenną.
Kompaktowy design oraz niska waga – ułatwia instalację i nie wpływa negatywnie na mechanikę mikroskopu.
Wysokoprecyzyjny slider z zintegrowanym silnikiem – umożliwia dokładne i powtarzalne pozycjonowanie detektora.
System może być rozbudowany o najnowszą wersję oprogramowania:
ESPRIT 2 – Niezawodne oprogramowanie 4-in-1 dla mikroanalizy – zintegrowana platforma dla EDS, EBSD, WDS i fluorescencji, oferująca zaawansowane narzędzia do kompleksowej charakterystyki materiałów, w tym unikalne połączenie metod bezwzorcowych i opartych na wzorcach.
Detektory XFlash®7 oferują znaczący skok wydajności dzięki połączeniu największego kąta bryłowego (do 1.1 sr) z najwyższą przepustowością (do 1,000,000 cps). Wprowadzają również technologię slim-line, która minimalizuje odległość detektora od próbki, oraz unikalny detektor FlatQUAD do analizy najbardziej wymagających próbek. Rozdzielczość energetyczna została utrzymana na poziomie nawet 123 eV (wg ISO 15632:2012).
FlatQUAD to unikalny, czterookienkowy detektor umieszczany między nabiegunnikiem SEM a próbką. Jego główne zalety to:
ISO 15632:2012 to międzynarodowa norma określająca metodę pomiaru i deklarowania parametrów rozdzielczości energetycznej detektorów EDS. Wszystkie wartości rozdzielczości (123 eV ultimate, 126 eV premium, 129 eV standard) podawane przez Bruker są mierzone zgodnie z tą normą, co gwarantuje porównywalność i wiarygodność parametrów pomiędzy różnymi producentami i laboratoriami.
Wybór zależy od zastosowania:
Dzięki technologii slim-line, nawet detektor 100 mm² zachowuje kompaktowe rozmiary i może być stosowany w ciasnych komorach mikroskopów.
Tak, detektory XFlash®7 są projektowane z myślą o szerokiej kompatybilności z większością mikroskopów SEM, FIB-SEM i EPMA. Dzięki smukłej konstrukcji slim-line i elastycznym opcjom montażu, mogą być instalowane w różnych konfiguracjach komór. Rekomendujemy konsultację z naszymi ekspertami w celu doboru optymalnego detektora i geometrii dla konkretnego modelu mikroskopu.
Detektory EDS serii XFlash®7 firmy Bruker to najnowsza generacja technologii EDS, wyznaczająca standardy wydajności i funkcjonalności dla skaningowej mikroskopii elektronowej, mikroskopii jonowej (FIB-SEM) i mikroanalizatorów sond elektronowych (EPMA). Oferując największy kąt bryłowy do 1.1 sr i wydajność analityczną do 1,000,000 cps, umożliwiają niezwykle szybkie pomiary przy zachowaniu najlepszej rozdzielczości energetycznej (nawet 123 eV wg ISO 15632:2012). Różnorodność konfiguracji – od detektorów o powierzchni 30, 60 i 100 mm², przez technologię slim-line dla maksymalnej wydajności przy niskich prądach, aż po unikalny, czterookienkowy detektor FlatQUAD – pozwala na idealne dopasowanie do każdego typu mikroskopu i najbardziej wymagających aplikacji. W połączeniu z zaawansowanym pakietem oprogramowania ESPRIT i bazą ponad 2,200 linii widmowych, XFlash®7 stanowi najbardziej kompletne i wydajne narzędzie do mikroanalizy i nanoanalizy składu chemicznego, od rutynowych kontroli jakości po zaawansowane badania naukowe.
Poniżej znajdują się rekomendowane akcesoria i materiały eksploatacyjne niezbędne do przygotowania próbek i prowadzenia analiz EDS, dostępne w naszym sklepie MICRO SHOP:
Wysokiej jakości stoliki aluminiowe o średnicy 25.4 mm z standardową nóżką, przeznaczone do mocowania próbek w mikroskopach elektronowych. Idealne do rutynowych analiz EDS, zapewniają stabilne i powtarzalne pozycjonowanie.
Samoprzylepne krążki węglowe do szybkiego i wygodnego mocowania próbek na stolikach SEM. Zapewniają doskonałe przewodnictwo, eliminując efekt ładowania się próbki podczas analizy EDS.
Wysokiej jakości pudełka do przechowywania i transportu preparatów od renomowanego producenta Agar Scientific. Dostępne w różnych rozmiarach, idealne do organizacji i archiwizacji próbek przed i po analizie EDS.
W naszej ofercie znajdują się również inne akcesoria niezbędne do kompleksowego przygotowania i analizy próbek w mikroskopii elektronowej:
Stoliki SEM w innych rozmiarach – Ø12.7 mm, Ø32 mm, specjalne mocowania
Taśmy przewodzące – węglowe, miedziane, aluminiowe do różnych zastosowań
Pasty i kleje przewodzące – do mocowania próbek o nieregularnych kształtach
Wzorce kalibracyjne EDS – do sprawdzania wydajności i kalibracji detektorów XFlash®
Narzędzia preparacyjne – pęsety, skalpele, młynki do próbek, eksykatory
Copyright © 2026 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions
