Mikroskop elektronowy ParticleX TC
Particle X jest niezależnym dedykowanym interfejsem działającym z wykorzystaniem mikroskopu PhenomXL pozwalającym na badanie czystości technicznej pod kątem norm ISO 16232 i VDA19
Particle X dzięki połączeniu możliwości mikroskopu Phenom XL oraz dedykowanej stacji roboczej jest w stanie w szybki i precyzyjny sposób zbadać cząstki wyekstrahowane z elementów produkowanych w przemyśle automotive. Rozmiar badanych cząstek wacha się od 500nm do 3mm co daje ogromne pole do działania pod kątem badania zanieczyszczeń i eliminacji ich w procesie produkcji, transportu lub pakowania zapewniając jak najlepsze parametry czystości technicznej. Wyekstrahowane cząstki badane są na ustandaryzowanych filtrach 47mm, 25mm lub innych stosowanych w analizie czystości technicznej.
Obecność analizatora EDS dostarcza nam informacji o pierwiastkowym składzie zanieczyszczeń, dzięki spersonalizowanym algorytmom interfejs Particle X jest w stanie skategoryzować znalezione cząstki od odpowiednich grup materiałów np. stopy metali, ceramika, tlenki metali jak i również konkretne stopy mogące pochodzić od różnych źródeł zanieczyszczeń – maszyny frezującej lub wycinającej dany element, obrabiarki lub stop metalu pochodzącego z czyszczonego detalu. Jest to nieoceniona pomoc w analizie źródeł zanieczyszczeń i ich szybkiej eliminacji z każdego procesu produkcyjnego.
Interfejs Particle X po wykonaniu badań czystości posiada możliwość generowania raportów zgodnych z normami ISO 16232 oraz VDA19. W zależności od wymagań klienta raporty mogą być edytowane i dopasowane konkretnie pod wymagania klienta.
Imaging:
Tryb obrazowania:
Optyczny: Powiększenie: 3–16x
Elektronowy: Powiększenie:160–200,000x
Oświetlenie:
Optyczne: Pole jasne/ pole ciemne
Elektronowe: Źródło elektronowe CeB6 o długim czasie życia (CeB₆)
Wiele prądów wiązki
Napięcia przyspieszające: Domyślnie: 5 kV, 10 kV and 15 kV
Tryb zaawansowany: regulowany zakres od 4,8 kV do 20,5 kV, tryb obrazowania i analizy
Poziomy próżni: Niska 60 Pa -> Średnia 10 Pa -> Wysoka 0,1 Pa
Rozdzielczość: <10nm
Detektory:
W standardzie: BSE – Backscattered electron detector
Opcjonalnie: SE – Detektor elektronów wtórnych, Everhart Thornley
Detekcja zdjęć cyfrowych
Optyka: Światło optyczne – wysokorozdzielcza kamera kolorowa nawigacyjna, jedno zdjęcie
Źródło elektronów: Wysokoczuły detektor elektronów wstecznie rozproszonych (tryb kontrastowy chemiczny i tryb topografii)
Formaty zapisu zdjęcia: JPEG, TIFF, PNG
Rozdzielczość zdjęć: 960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 and 7680 x 4800 pixels
Przechowywanie danych: USB 2.0 dysk przenośny/sieciowo na komputerze
Stolik na próbki: zmotoryzowany przesuw w osiach X i Y
EDS:
Typ detektora: Silicon Drift Detector (SDD)
Chłodzony termoelektrycznie (LN₂ free)
Aktywna powierzchnia detektora: 25 mm²
Typ okienka: Ultracienki azotek krzemu (Si₃N₄) możliwiająca wykrywanie pierwiastków od B do Am
Rozdzielczość: Mn Kα ≤132 eV
Możliwości okienka: Wielokanałowy analizator z 2048 kanałami przy energii 10 eV na każdy kanał
Maksymalna szybkość zliczania na wejściu: 300 000 zliczeń/s
Integracja hardware: Pełna
Mapowanie pierwiastkowe:
Selekcja: 10 ręcznie ustawionych map wraz z obrazem z BSE lub obrazem z miksu BSE+SE
Obraz z detektora BSE, obraz z miksu BSE+SE:
Wybrany obszar: Prostokątna, dowolny rozmiar
Rozdzielczość mapowania pierwiastkowego: 16 x 16 px – 1024 x 1024 px
Czas ekspozycji pixela: 1 – 250 ms
Skan liniowy:
Rozdzielczość skanu liniowego: 16 – 512 px
Czas ekspozycji punktu: 50 – 250 ms
Maksymalna liczba linii: 12
Oprogramowanie:
Zintegrowane w interfejsie użytkownika Phenom
Zintegrowane sterowanie kolumną i stołem
Auto-detekcja pierwiastków po pierwszej sekundzie analizy
Iteracyjne usuwanie nakładających się pików
Parametr niepewności pomiarowej
Funkcje raportu: CSV, JPG, TIFF, ELID, EMSA
Raport: .doc format
System:
Dimensions & weight:
Jednostka główna: 316(w) x 587(d) x 625(h) mm, 75 kg
Pompa próżniowa: 145(w) x 220(d) x 213(h) mm, 4,5 kg
Zasilacz: 260(w) x 260(d) x 85(h) mm, 4,5kg
Monitor (24”): 531(w) x 180(d) x 511(h) mm, 5,6kg
Stacja robocza: Komputer z dyskiem SSD
93(w) x 293(d) x 290(h) mm, 5,6 kg
Rozmiar stolika: Max. 100 mm x 100 mm (do 36x stoliczków aluminiowych ⌀12 mm)
Max. 40 mm wysokości (opcjonalnie do 65 mm)
Obszar roboczy: 100 mm x 100 mm
Czas obrazowania od włożenia stoliczka do komory:
Tryb kamery <5 s
Tryb SEM <60 s
Wymagania:
Parametry środowiska/ stacja robocza
Temperatura: 15°C ~ 30°C (59°F ~ 86°F)
Wilgotność: 20% – 80%
Zasilanie: Jedna faza, prąd zmienny 100–240 W, 50/60 Hz, 163 W średnia, 348 W max
Rekomendowana wielkość stołu: 150 x 75 cm, nośność 150 kg
Specyfikacja stacji roboczej:
HP-PC Tower PC
CPU Intel Xeon E5-1620
RAM 16 GB
SSD 2 x 1TB
Klawiatura i myszka USB
Microsoft Windows® 10 Enterprise Edition (64-bit)
Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions