Particle X to dedykowany interfejs współpracujący z mikroskopem Phenom XL, zaprojektowany specjalnie do analizy czystości technicznej zgodnie z normami ISO 16232 i VDA19. Dzięki integracji z mikroskopem Phenom XL G2 oraz specjalistyczną stacją roboczą, interfejs Particle X umożliwia szybkie i niezwykle precyzyjne badanie cząstek wyekstrahowanych z elementów przemysłowych, zwłaszcza w przemyśle motoryzacyjnym oraz lotniczym.

System Particle X umożliwia analizę cząstek o rozmiarach od 500 nm do 3 mm, co pozwala na dogłębną ocenę zanieczyszczeń oraz ich eliminację w procesach produkcyjnych, transportowych czy opakowaniowych, zapewniając optymalne parametry czystości technicznej. Badane cząstki są analizowane na standardowych filtrach 47 mm, powszechnie stosowanych w analizie czystości.

Dzięki wbudowanemu analizatorowi EDS, Particle X dostarcza informacji o pierwiastkowym składzie zanieczyszczeń. Spersonalizowane algorytmy interfejsu pozwalają na precyzyjną klasyfikację cząstek według grup materiałów, takich jak stopy metali, ceramika czy tlenki metali. System potrafi również identyfikować konkretne źródła zanieczyszczeń, takie jak maszyny frezarskie, obrabiarki czy stopy metali pochodzące z czyszczonych detali. Taki poziom analizy ułatwia szybkie identyfikowanie źródeł zanieczyszczeń i ich eliminację z procesów produkcyjnych.

Mikroskop skaningowy Phenom XL Particle X sprawdza się również w standardowym obrazowaniu SEM, umożliwiając badanie struktury próbek. Po prostym demontażu holdera na sączki, uzyskujemy obszar roboczy o wymiarach 100 mm x 100 mm x 65 mm, który pozwala na obrazowanie oraz analizę większych próbek. Uzyskane obrazy można zapisać w formatach JPEG, TIFF i BMP.

Po przeprowadzeniu analizy czystości, interfejs Particle X umożliwia generowanie raportów zgodnych z normami ISO 16232 i VDA19. Raporty mogą być dostosowywane i edytowane zgodnie z indywidualnymi wymaganiami użytkownika.