Dzięki znajomości parametrów procesu wytwarzania półproduktu stalowego, można kontrolować i ograniczać niepożądane wtrącenia w materiale. Prawidłowe obrazowe i chemiczne monitorowanie jakości materiału wymaga solidnego, odpornego i wydajnego rozwiązania dedykowanego dla przemysłu. 

Steel jest niezależnym dedykowanym interfejsem działającym z wykorzystaniem mikroskopu PhenomXL, pozwalającym na analizę wtrąceń metalicznych i niemetalicznych, kontrastujących w skali szarości na tle materiału macierzystego. Obecność analizatora EDS dostarcza nam informacji o pierwiastkowym składzie zanieczyszczeń, dzięki spersonalizowanym algorytmom interfejs Particle X jest w stanie zliczyć, zmierzyć, sklasyfikować oraz automatycznie zanalizować i wygenerować raport zawierający wszystkie znalezione wtrącenia w materiale. Pliki morfologiczne oraz klasyfikacyjne pozwalają na korzystanie z możliwości edycji lub zadania parametrów poszukiwanych obiektów. Wyniki skanowania można otworzyć ponownie w dowolnym czasie oraz przeliczyć je względem danych zebranych podczas analizy. 

Moduł do generowania raportów posiada możliwość edycji tabel, wykresów, histogramów, wykresów tróskładnikowych, rozkładu i gęstości wtrąceń w danym okienku pomiarowym. Wszystko aby szybko i z wysoką powtarzalnością zwizualizować jakość materiału, już w trakcie produkcji. Dodatkowo po wykonanym skanie możemy każdy znaleziony obiekt, wybrany z tabeli w module inspekcji. 

Steel poszukuje wtrącenia w stali uspokojonych Si, Al, traktowanych Ca. Wtrącenia tlenkowe, siarkowe, metaliczne, oraz organiczne w zakresie pierwiastkowym od C do U. 

Imaging:

Tryb obrazowania:

Optyczny: Powiększenie: 3–16x

Elektronowy: Powiększenie:160–200,000x

Oświetlenie:

Optyczne: Pole jasne/ pole ciemne

Elektronowe: Źródło elektronowe CeB6 o długim czasie życia (CeB₆)

    Wiele prądów wiązki

Napięcia przyspieszające: Domyślnie: 5 kV, 10 kV and 15 kV

      Tryb zaawansowany: regulowany zakres od 4,8 kV do 20,5 kV, tryb obrazowania i analizy

Poziomy próżni: Niska 60 Pa -> Średnia 10 Pa -> Wysoka 0,1 Pa

Rozdzielczość: <10nm

Detektory:

W standardzie: BSE – Backscattered electron detector

Opcjonalnie: SE – Detektor elektronów wtórnych, Everhart Thornley

Detekcja zdjęć cyfrowych

Optyka: Światło optyczne – wysokorozdzielcza kamera kolorowa nawigacyjna, jedno zdjęcie

Źródło elektronów: Wysokoczuły detektor elektronów wstecznie rozproszonych (tryb kontrastowy chemiczny i tryb topografii)

Formaty zapisu zdjęcia: JPEG, TIFF, PNG

Rozdzielczość zdjęć: 960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 and 7680 x 4800 pixels

Przechowywanie danych: USB 2.0 dysk przenośny/sieciowo na komputerze

Stolik na próbki: zmotoryzowany przesuw w osiach X i Y

EDS:

Typ detektora: Silicon Drift Detector (SDD)

       Chłodzony termoelektrycznie (LN₂ free)

Aktywna powierzchnia detektora: 25 mm²

Typ okienka: Ultracienki azotek krzemu (Si₃N₄) możliwiająca wykrywanie pierwiastków od B do Am

Rozdzielczość: Mn Kα ≤132 eV

Możliwości okienka: Wielokanałowy analizator z 2048 kanałami przy energii 10 eV na każdy kanał

Maksymalna szybkość zliczania na wejściu: 300 000 zliczeń/s

Integracja hardware: Pełna

Mapowanie pierwiastkowe:

Selekcja: 10 ręcznie ustawionych map wraz z obrazem z BSE lub obrazem z miksu BSE+SE

Obraz z detektora BSE, obraz z miksu BSE+SE:

Wybrany obszar: Prostokątna, dowolny rozmiar

Rozdzielczość mapowania pierwiastkowego: 16 x 16 px – 1024 x 1024 px

Czas ekspozycji pixela: 1 – 250 ms

Skan liniowy:

Rozdzielczość skanu liniowego: 16 – 512 px

Czas ekspozycji punktu: 50 – 250 ms

Maksymalna liczba linii: 12

Oprogramowanie:

Zintegrowane w interfejsie użytkownika Phenom

Zintegrowane sterowanie kolumną i stołem

Auto-detekcja pierwiastków po pierwszej sekundzie analizy

Iteracyjne usuwanie nakładających się pików

Parametr niepewności pomiarowej

Funkcje raportu: CSV, JPG, TIFF, ELID, EMSA

Raport: .doc format

System:

Dimensions & weight:

Jednostka główna: 316(w) x 587(d) x 625(h) mm, 75 kg

Pompa próżniowa: 145(w) x 220(d) x 213(h) mm, 4,5 kg

Zasilacz: 260(w) x 260(d) x 85(h) mm, 4,5kg

Monitor (24”): 531(w) x 180(d) x 511(h) mm, 5,6kg

Stacja robocza: Komputer z dyskiem SSD

93(w) x 293(d) x 290(h) mm, 5,6 kg

Rozmiar stolika: Max. 100 mm x 100 mm (do 36x stoliczków aluminiowych ⌀12 mm)

Max. 40 mm wysokości (opcjonalnie do 65 mm)

Obszar roboczy: 100 mm x 100 mm

Czas obrazowania od włożenia stoliczka do komory:

Tryb kamery <5 s

Tryb SEM <60 s

Wymagania:

Parametry środowiska/ stacja robocza

Temperatura: 15°C ~ 30°C (59°F ~ 86°F)

Wilgotność: 20% – 80%

Zasilanie: Jedna faza, prąd zmienny 100–240 W, 50/60 Hz, 163 W średnia, 348 W max

Rekomendowana wielkość stołu: 150 x 75 cm, nośność 150 kg

Specyfikacja stacji roboczej:

HP-PC Tower PC

CPU Intel Xeon E5-1620

RAM 16 GB

SSD 2 x 1TB

Klawiatura i myszka USB

Microsoft Windows® 10 Enterprise Edition (64-bit)