Za nami pierwsza edycja Phenom Users Meeting 2026 – wyjątkowego wydarzenia, które zgromadziło użytkowników mikroskopów elektronowych Phenom firmy Thermo Fisher Scientific, ekspertów branżowych oraz przedstawicieli środowiska naukowego i przemysłowego. Spotkanie było przestrzenią do wymiany wiedzy, doświadczeń i praktycznych rozwiązań z zakresu mikroskopii SEM oraz technik komplementarnych. Projekt obejmował doposażenie infrastruktury do preparatyki SEM, TEM i cryo-TEM, w tym także wdrożenie techniki high pressure freezing, przy wykorzystaniu zaawansowanych rozwiązań Leica Microsystems. Wiedza ekspercka i inspirujące wykłady Szczególną wartością wydarzenia były wykłady zaproszonych prelegentów, którzy zaprezentowali rzeczywiste zastosowania mikroskopii elektronowej w badaniach naukowych i przemysłowych: prof. dr hab. inż. Monika A. Kusiak (Instytut Geofizyki PAN) – działalność i możliwości Geoprocessing Belsk Laboratory dr inż. Paulina Zieja (Instytut Geofizyki PAN) – „SEM-EDS of Antarctic monazites and microplastics” dr inż. Małgorzata Rutkowska-Gorczyca (Politechnika Wrocławska) – badania in situ z wykorzystaniem uchwytu tensometrycznego dr Kamil Marcisz (Uniwersytet Warszawski) – mikroskopia elektronowa w charakterystyce żeli polimerowych dr hab. Tomasz Daniel Marquardt, prof. uczelni (Dziekan Wydziału Nauk Biologicznych UKW) – mikroskopia elektronowa w badaniach biologicznych roztoczy dr Eduardo Sardinha (Channel Manager EMEA, Thermo Fisher Scientific) – nowości w ofercie mikroskopów Phenom Warsztaty i praca z aparaturą Integralną częścią Phenom Users Meeting były praktyczne warsztaty, podczas których uczestnicy mogli bezpośrednio pracować z aparaturą i konsultować się z ekspertami: SEM i SEM/EDS – Maciej Bazarnik Preparatyka próbek – Łukasz Remez Mikroskopia świetlna – Jarosław Michałek, Kacper Ślaski FT-IR i Raman – Wiktor Tomala, Alicja Duda Premiera Phenom XL G3 – Paula Vena Dziękujemy i do zobaczenia Jako PIK Instruments serdecznie dziękujemy wszystkim uczestnikom za obecność, aktywny udział i merytoryczne dyskusje. Cieszymy się, że mogliśmy wspierać rozwój kompetencji w obszarze mikroskopii elektronowej, analizy materiałowej i badań R&D. 📌 Do zobaczenia podczas kolejnych edycji Phenom Users Meeting!

Analiza czystości technicznej to kluczowy etap w ocenie jakości elementów i komponentów przemysłowych. W PIK Instruments oferujemy kompleksowe badania czystości technicznej z wykorzystaniem mikroskopii elektronowej SEM/EDX oraz mikroskopii świetlnej, które wzajemnie się uzupełniają i pozwalają uzyskać pełny obraz charakterystyki zanieczyszczeń. Mikroskopia świetlna – szybka i precyzyjna analiza cząstek Metoda ta pozwala analizować cząstki organiczne, takie jak polimery czy włókna naturalne. Pozwala również: określić procent zajętości filtra, zmierzyć wysokość cząstek i włókien, przeprowadzić pełny skan próbki w zaledwie 5–10 minut. Dzięki tym właściwościom mikroskopia świetlna stanowi niezastąpione narzędzie w szybkim i nieniszczącym badaniu próbek. Narzędzie do Twoich potrzeb. Mikroskopia elektronowa SEM – analiza cząstek wraz z analizą składu chemicznego Z kolei mikroskopia elektronowa SEM (Scanning Electron Microscopy), wspierana analizą EDX (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy), umożliwia szczegółowe badanie składu chemicznego każdej pojedynczej cząstki. Jej najważniejsze zalety to: wysoka głębia ostrości i rozdzielczość, doskonała wykrywalność cząstek metalicznych i abrazyjnych, precyzyjna identyfikacja pierwiastków obecnych w próbce. Zaawansowane instrumenty pomiarowe Analizy w naszym laboratorium realizowane są przy użyciu: mikroskopu elektronowego ParticleX TC (Thermo Fisher Scientific), mikroskopu świetlnego Leica DM6 (Leica Microsystems). Zastosowanie tych urządzeń gwarantuje najwyższą jakość obrazowania, powtarzalność wyników oraz pełną zgodność z normami branżowymi w zakresie analiz czystości technicznej. 📩 Kontakt z PIK Instruments

W ostatnich miesiącach mieliśmy przyjemność współpracować z Nencki Institute of Experimental Biology PAS – najstarszym w Polsce, nieuniwersyteckim instytutem biologicznym, działającym nieprzerwanie od 1918 roku. Projekt obejmował doposażenie infrastruktury do preparatyki SEM, TEM i cryo-TEM, w tym także wdrożenie techniki high pressure freezing, przy wykorzystaniu zaawansowanych rozwiązań Leica Microsystems. Dla nas była to nie tylko realizacja technicznego zadania, ale również dowód zaufania i wspólnej misji — wspierania polskiej nauki w prowadzeniu badań na światowym poziomie. Słowa „jesteśmy zadowoleni”, które usłyszeliśmy od zespołu Instytutu, stanowią dla nas największe potwierdzenie, że zaangażowanie, wiedza i doświadczenie naszego zespołu przekładają się na realne wsparcie środowiska naukowego. Dziękujemy Łukaszowi Remezowi za koordynację projektu oraz wszystkim partnerom i współpracownikom, którzy przyczynili się do jego sukcesu: Hannie Nieżnańskiej, Andrzejowi Szczepankiewiczowi, Fredericowi Leroux, Andreasowi Nowakowi oraz Nikodemowi Szymańskiemu za merytoryczne wsparcie i zaangażowanie. Takie projekty przypominają nam, że największą wartością naszej pracy jest wpływ na rozwój nauki i ludzi, którzy ją tworzą. 🔍 Szukasz rozwiązań dla swojej pracowni? Skontaktuj się z nami, a wspólnie dopasujemy odpowiednie narzędzie do Twoich potrzeb. 📩 Kontakt z PIK Instruments

W laboratorium PIK Metrology każdego dnia zaglądamy głębiej – tam, gdzie wzrok nie sięga. Dzięki nowoczesnym technikom mikroskopii świetlnej i zaawansowanym metodom analizy metalograficznej, potrafimy dokładnie określić strukturę materiałów i ich jakość. Dlaczego analiza metalograficzna jest tak ważna? Metalografia to klucz do zrozumienia zachowania materiałów w warunkach eksploatacyjnych. Dzięki niej można: przewidzieć trwałość i niezawodność komponentów. ocenić jednorodność i jakość struktury metalu, wykryć mikropęknięcia, wtrącenia, nieciągłości i defekty, zweryfikować procesy obróbki cieplnej i mechanicznej, Kompleksowy proces badawczy w PIK Metrology W naszym laboratorium oferujemy pełny cykl analizy mikrostrukturalnej: Przygotowanie próbek – precyzyjne cięcie, szlifowanie i polerowanie, Mikroskopia świetlna – obserwacja struktury materiału w wysokiej rozdzielczości, Analiza obrazu – ocena ilościowa i jakościowa mikrostruktury. Dzięki temu dostarczamy rzetelne, powtarzalne i udokumentowane wyniki, które wspierają procesy kontroli jakości oraz badań materiałowych w przemyśle i nauce. analizę morfologii i struktury próbek, badanie składu chemicznego przy użyciu metody EDS, dokładną i szybką analizę materiałów w laboratorium. Zaufaj doświadczeniu! Zespół PIK Metrology to specjaliści z wieloletnim doświadczeniem w badaniach materiałowych.Jeśli potrzebujesz dokładnej analizy, szybkiego terminu realizacji i pełnego wsparcia technicznego – jesteśmy do Twojej dyspozycji. 📩 Więcej informacji na: laboratorium-pik.pl

W dniach 22–23 lipca 2025 roku na Wydziale Chemii Uniwersytetu Marii Curie-Skłodowskiej (UMCS) odbyły się warsztaty poświęcone mikroskopii elektronowej skaningowej (SEM) oraz spektroskopii w podczerwieni z transformacją Fouriera (FT-IR). Warsztaty zgromadziły naukowców zainteresowanych praktycznym zastosowaniem nowoczesnych technik analitycznych, pozwalając im zdobyć doświadczenie w pracy z zaawansowanym sprzętem laboratoryjnym. Praca na nowoczesnym sprzęcie Podczas warsztatów uczestnicy mieli okazję pracować na mikroskopie Thermo Scientific Phenom ProX G6 Desktop SEM, który umożliwia: analizę morfologii i struktury próbek, badanie składu chemicznego przy użyciu metody EDS, dokładną i szybką analizę materiałów w laboratorium. Dodatkowo dostępny był spektrometr Bruker Alpha II, pozwalający na szybką i precyzyjną analizę FT-IR, niezbędną w badaniach chemicznych i materiałowych. Interaktywne doświadczenia i wymiana wiedzy Warsztaty były okazją do praktycznej nauki oraz wymiany doświadczeń. Uczestnicy aktywnie angażowali się w eksperymenty i dyskusje, co pozwoliło pogłębić wiedzę z zakresu mikroskopii SEM i spektroskopii FT-IR. Dlaczego warto stosować SEM i FT-IR w badaniach? SEM pozwala badać strukturę i morfologię materiałów z dużą precyzją, co jest kluczowe w naukach materiałowych i chemicznych FT-IR umożliwia szybką identyfikację związków chemicznych, analizę materiałów organicznych i nieorganicznych oraz kontrolę jakości produktów. Dzięki połączeniu tych technik naukowcy mogą uzyskać kompleksową charakterystykę próbek, co znacząco przyspiesza badania i poprawia ich dokładność. 💡 Podsumowanie: Warsztaty SEM i FT-IR na UMCS były doskonałą okazją do praktycznego poznania zaawansowanych technik analitycznych, wymiany doświadczeń i zdobycia wiedzy, którą można wykorzystać w badaniach naukowych i przemysłowych. Fot. Adrian Skubiszewski, UMCS Źródło: https://www.umcs.pl/pl/aktualnosci,53,warsztaty-z-mikroskopii-sem-i-spektroskopii-ft-ir,170218.chtm 📩 Kontakt z PIK Instruments

W dniach 14–16 października 2025 zespół PIK Instruments będzie obecny na Międzynarodowych Targach TOOLEX w Międzynarodowym Centrum Kongresowym w Katowicach. To jedno z najważniejszych wydarzeń branży przemysłowej, koncentrujące się na nowoczesnych technologiach, metrologii oraz kontroli jakości – kluczowych elementach przemysłu 4.0. Stoisko PIK Instruments – nr 105 Na naszym stoisku spotkacie ekspertów: Jagodę Kaptur, Mateusza Wójcika, Mariusza Ogiermana i Jarosława Michałka, którzy zaprezentują rozwiązania światowych liderów technologii: Leica Microsystems – mikroskopy optyczne i systemy obrazowania Bruker – spektrometria i analiza materiałowa hermo Fisher Scientific – mikroskopy elektronowe SEM/TEM Dr. Heinrich Schneider Messtechnik GmbH – systemy pomiarowe do metrologii Mitcorp – nowoczesne videoskopy LAM PLAN S.A.S. – rozwiązania do preparatyki materiałowej Barrus – urządzenia wspierające jakość procesów produkcyjnych Na TOOLEX 2025 skupimy się na prezentacji urządzeń, które wspierają automatyzację i cyfryzację procesów produkcyjnych, zwiększają efektywność pracy laboratoriów i zakładów przemysłowych oraz pomagają firmom spełniać rosnące wymagania jakościowe. 📅 Szczegóły wydarzenia znajdziesz na stronie organizatora: www.toolex.pl 📩 Kontakt z PIK Instruments