Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Mikroskop materiałoznawczy Leica Visoria M

Aparatura badawczaMikroskopia świetlna (optyczna)Mikroskopy świetlne (optyczne)
Światło odbite, przechodzące oraz fluorescencja
Techniki jasnego pola, ciemnego pola, kontrast Nomarskiego (DIC) oraz polaryzacja
Kodowane parametry – oświetlenie, obiektywy, techniki kontrastowe
Intuicyjne oprogramowanie
Oprogramowanie do tworzenia zdjęć o poszerzonej głębi ostrości oraz zdjęć panoramicznych
Automatyczny pomiar grubości warstwy
Dwa groty strzał
Światło odbite, przechodzące oraz fluorescencja
Techniki jasnego pola, ciemnego pola, kontrast Nomarskiego (DIC) oraz polaryzacja
Kodowane parametry – oświetlenie, obiektywy, techniki kontrastowe
Intuicyjne oprogramowanie
Oprogramowanie do tworzenia zdjęć o poszerzonej głębi ostrości oraz zdjęć panoramicznych
Automatyczny pomiar grubości warstwy
Dwa groty strzał
Zapytaj o produkt
×

    Zapytaj o ten produkt

    Jeżeli jesteś zainteresowany tym produktem, wypełnij poniższy formularz, a my wyślemy do Ciebie ofertę.

    Partnerzy

    Dwa groty strzał Dwa groty strzał

    Informacje
    kontaktowe

    Kartka papieru

    NIP: 1231377998

    KRS: 0000705300

    REGON: 368854010

    Certyfikacja
    ISO 9001

    Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

     
     

    Polityka plików cookie

    Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

    Logo serwisu YouTube
    Logo serwisu LinkedIn