Mikroskop materiałoznawczy Leica Visoria M
Doświadcz zwiększonej wydajności i komfortu w codziennej rutynie mikroskopowania. Mikroskop do analizy materiałów Visoria M jest przeznaczony do zastosowań w przemyśle metalurgicznym, elektronicznym i polimerowym, a także w laboratoriach materiałoznawczych. Obserwuj próbki we wszystkich dostępnych technikach kontrastowych światła odbitego: jasne pole, ciemne pole, kontrast Nomarskiego (DIC), oświetlenie skośne oraz światło spolaryzowane. Mikroskop umożliwia również pracę w świetle przechodzącym umożliwiając obrazowanie transparentnych materiałów.
Usprawnij swoją pracę dzięki zakodowanym funkcjom, zoptymalizowanym ustawieniom oświetlenia i innym funkcjom mikroskopu. Ergonomiczna konstrukcja mikroskopu zapewnia również większą wygodę i minimalizuje obciążenie.
Poświęć więcej czasu na oglądanie i badanie próbek z Visoria M. Jeśli zmienisz powiększenie mikroskopu lub metodę kontrastu, nie ma potrzeby ręcznego dostosowywania jasności dzięki funkcji zarządzania oświetleniem. Ustawienia podświetlenia są automatycznie stosowane dzięki kodowaniu parametrów mikroskopu.
Możesz szybko uchwycić szczegóły próbki jednym naciśnięciem przycisku, nie odrywając wzroku od obrazu. Przycisk akwizycji obrazu jest łatwo dostępny na statywie mikroskopu Visoria M. Podczas zapisywania obrazu do dokumentacji wybrane ustawienia systemowe są automatycznie zapisywane wraz z metadanymi obrazu. Pasek skali jest automatycznie dostosowywany do wybranego obiektywu i dodawany do obrazu, co zwiększa wydajność i oszczędza cenny czas.
Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions