Phenom Pharos G2 FEG-SEM wprowadza zaawansowaną technologię emisji polowej (FEG) do kompaktowych, skaningowych mikroskopów elektronowych. Phenom Pharos G2 FEG-SEM wyróżnia się jakością uzyskiwanych obrazów elektronowych, przewyższając wiele tradycyjnych mikroskopów SEM typu podłogowego. Jest idealnym rozwiązaniem dla laboratoriów akademickich i przemysłowych, które dotychczas uważały wysokorozdzielczy SEM za nieosiągalną opcję. Phenom Pharos G2 FEG-SEM zapewnia dostęp do możliwości zarezerwowanych dla mikroskopii elektronowej z wysokiej jakości emisją polową elktronów (FEG), a jego wyjątkowo szybki proces odpompowania komory, umożliwia sprawną wymianę próbek – co znacząco zwiększa produktywność.

Phenom Pharos G2 FEG-SEM oferuje szeroki zakres napięć przyspieszających, od 1 kV – dla lepszego obrazowania próbek nieprzewodzących i wrażliwych na wiązkę, aż do 20 kV – co z kolei pozwala na obserwację najdrobniejszych szczegółów przy jednoczesnym zapewnieniu rozdzielczości poniżej 2,0 nm.

Nowy uchwyt próbki ze zintegrowanym detektorem STEM dla Phenom Pharos G2 wprowadza dodatkowy wymiar możliwości obrazowania, co zwiększa różnorodność zastosowań I zdecydowanie rozszerza zaawansowane możliwości tego mikroskopu FEG-SEM. Uchwyt STEM wykorzystuje wysoką jasność źródła FEG do obrazowania bardzo cienkich próbek w trybie prześwietleniowym  – transmisyjnym. Skupione do małej wielkości plamki elektrony, przenikają przez próbkę i są wykrywane przez wielosektorowy detektor umieszczony pod preparatem. Standardowy uchwyt STEM obsługuje obrazowanie w polu jasnym (BF), polu ciemnym (DF) oraz polu ciemnym szerokokątowym – pierścieniowym (HAADF), a także umożliwia dostosowanie konfiguracji.

Rozdzielczość:

• <2,0 nm (SE), <3 nm (BSE) przy 20 kV
• 10 nm (SE) przy 3 kV
• <1 nm STEM

Zakres powiększenia elektronowego:

• Do 2 000 000x

Powiększenie optyczne:

• 27 – 160x

Napięcia przyspieszające: 

• Domyślnie: 5 kV, 10 kV , 15 kV i 20 kV
• Tryb zaawansowany: regulowany zakres od 1 kV do 20 kV

Tryby próżniowe:

• Tryb wysokiej próżni
• Tryb średniej próżni
• Zintegrowany tryb redukcji ładunku (tryb niskiej próżni)

Detektory:

• Detektor elektronów wstecznie rozproszonych (standard)
• Detektor EDS (opcjonalnie)
• Detektor elektronów wtórnych (opcjonalnie)
• Detektor STEM dla trybu transmisyjnego (opcjonalnie)

Wielkość próbki:

• Średnica do 25 mm (opcjonalnie 32 mm)

Wysokość próbki:

• Do 35 mm (opcjonalnie 100 mm)