+48 22 726 74 96
kontakt@pik-instruments.pl
Wpisz wyszukiwaną frazę...
×
Wpisz wyszukiwaną frazę...
×
❯
Aparatura badawcza
❯
Mikroskopia elektronowa
❯
Mikroskopy elektronowe SEM / TEM
❯
Analizatory składu chemicznego EDS / WDS oraz kamery EBSD
❯
Techniki in-situ
❯
Preparatyka
❯
Mikroskopia świetlna (optyczna)
❯
Preparatyka
❯
Mikroskopy świetlne (optyczne)
❯
Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana
❯
Spektrometry FT-NIR
❯
Mikroskopy FT-IR oraz QCL-IR
❯
Mikroskopy Ramana
❯
Spektrometry procesowe FT-IR/NIR
❯
Spektrometry Ramana
❯
Analizatory gazów
❯
Spektrometry FT-IR
❯
Analizatory składu chemicznego stopów metali
❯
Preparatyka
❯
Techniki in-situ
❯
Wideoskopy
❯
Analizatory nanocząsteczek
❯
Metalografia
❯
Materiały eksploatacyjne
❯
Przemysł – kontrola jakości oraz R&D
❯
Obrazowanie w przemyśle
❯
Mikroskopia świetlna w przemyśle
❯
Mikroskopia elektronowa SEM
❯
Czystość techniczna
❯
Mikroskopia świetlna w czystości technicznej
❯
Mikroskopia elektronowa SEM
❯
Stacje ekstrakcyjne
❯
Analizatory do czystości technicznej
❯
Ręczne spektrometry XRF
❯
Analizatory składu chemicznego stopów metali
❯
Spektrometry OES Bruker
❯
Spektrometry GDOES
❯
Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana
❯
Spektrometry Ramana
❯
Spektrometry FT-NIR
❯
Spektrometry FT-IR
❯
Mikroskopy FT-IR oraz QCL-IR
❯
Spektrometry procesowe FT-IR/NIR
❯
Mikroskopy Ramana
❯
Analizatory gazów
❯
Analizatory nanocząsteczek
❯
Wideoskopy
❯
Metalografia
❯
Materiały eksploatacyjne
❯
Laboratorium usługowe
❯
Serwis
❯
Sklep internetowy MICRO-SHOP
❯
Partnerzy
❯
O nas
PIK Instruments
Aparatura badawcza
Przemysł – kontrola jakości oraz R&D
Laboratorium usługowe
Serwis
Sklep internetowy MICRO-SHOP
Partnerzy
O nas
Mikroskopia elektronowa
Mikroskopy elektronowe SEM / TEM
Analizatory składu chemicznego EDS / WDS oraz kamery EBSD
Techniki in-situ
Preparatyka
Mikroskopia świetlna (optyczna)
Preparatyka
Mikroskopy świetlne (optyczne)
Obrazowanie w przemyśle
Mikroskopia świetlna w przemyśle
Mikroskopia elektronowa SEM
Czystość techniczna
Mikroskopia świetlna w czystości technicznej
Mikroskopia elektronowa SEM
Stacje ekstrakcyjne
Analizatory do czystości technicznej
Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana
Spektrometry FT-NIR
Mikroskopy FT-IR oraz QCL-IR
Mikroskopy Ramana
Spektrometry procesowe FT-IR/NIR
Spektrometry Ramana
Analizatory gazów
Spektrometry FT-IR
Ręczne spektrometry XRF
Analizatory składu chemicznego stopów metali
Spektrometry OES Bruker
Spektrometry GDOES
Analizatory składu chemicznego stopów metali
Preparatyka
Techniki in-situ
Wideoskopy
Analizatory nanocząsteczek
Metalografia
Materiały eksploatacyjne
Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana
Spektrometry Ramana
Spektrometry FT-NIR
Spektrometry FT-IR
Mikroskopy FT-IR oraz QCL-IR
Spektrometry procesowe FT-IR/NIR
Mikroskopy Ramana
Analizatory gazów
—
Ręczne spektrometry XRF
Analizatory nanocząsteczek
Wideoskopy
Metalografia
Materiały eksploatacyjne
foo
Aparatura badawcza
