Data publikacji: 06 listopada 2025
Analiza czystości technicznej to kluczowy etap w ocenie jakości elementów i komponentów przemysłowych. W PIK Instruments oferujemy kompleksowe badania czystości technicznej z wykorzystaniem mikroskopii elektronowej SEM/EDX oraz mikroskopii świetlnej, które wzajemnie się uzupełniają i pozwalają uzyskać pełny obraz charakterystyki zanieczyszczeń.
Mikroskopia świetlna – szybka i precyzyjna analiza cząstek
Metoda ta doskonale sprawdza się w analizie cząstek organicznych, takich jak polimery czy włókna naturalne. Pozwala również:
- określić procent zajętości filtra,
- zmierzyć wysokość cząstek i włókien,
- przeprowadzić pełny skan próbki w zaledwie 5–10 minut.
Dzięki tym właściwościom mikroskopia świetlna stanowi niezastąpione narzędzie w szybkim i nieniszczącym badaniu próbek.narzędzie do Twoich potrzeb.
Mikroskopia elektronowa SEM – analiza w mikroskali
Z kolei mikroskopia elektronowa SEM (Scanning Electron Microscopy), wspierana analizą EDX (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy), umożliwia szczegółowe badanie składu chemicznego każdej pojedynczej cząstki. Jej najważniejsze zalety to:
- wysoka głębia ostrości i rozdzielczość,
- doskonała wykrywalność cząstek metalicznych i abrazyjnych,
- precyzyjna identyfikacja pierwiastków obecnych w próbce.
Zaawansowane instrumenty pomiarowe
Analizy w naszym laboratorium realizowane są przy użyciu:
- mikroskopu elektronowego ParticleX TC (Thermo Fisher Scientific),
- mikroskopu świetlnego Leica DM6 (Leica Microsystems).
Zastosowanie tych urządzeń gwarantuje najwyższą jakość obrazowania, powtarzalność wyników oraz pełną zgodność z normami branżowymi w zakresie analiz czystości technicznej.