Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Czystość techniczna pod lupą – relacja z Technical Cleanliness Forum

Obrazek wyróżniający we wpisie na blogu

Data publikacji: 18 maja 2025

Mieliśmy przyjemność wziąć udział w wydarzeniu Technical Cleanliness Forum, które zgromadziło ekspertów, inżynierów jakości oraz przedstawicieli przemysłu zainteresowanych nowoczesnymi metodami analizy czystości technicznej komponentów.

Spotkanie stanowiło doskonałą okazję do zaprezentowania najnowocześniejszych technologii do kontroli zanieczyszczeń stałych, zgodnych z normami ISO 16232 oraz VDA 19.1, które mają kluczowe znaczenie dla jakości i niezawodności procesów produkcyjnych w branżach takich jak automotive, lotnictwo, elektronika precyzyjna, czy produkcja medyczna.

🔬 Co zaprezentowaliśmy?

🧪 ThermoFisher ParticleX TCskaningowy mikroskop elektronowy SEM,
który umożliwia szybkie zliczanie cząstek zanieczyszczeń oraz analizę ich składu chemicznego. To rozwiązanie idealne dla działów jakości i laboratoriów analizujących czystość komponentów technicznych.

🔍 Leica DM6 M Cleanliness Expertmikroskop optyczny do analizy czystości technicznej,
stworzony z myślą o pełnej zgodności z wymaganiami VDA 19 i ISO 16232. Uczestnicy mogli przekonać się, jak intuicyjna obsługa i wbudowane oprogramowanie usprawniają codzienną kontrolę jakości.

💧 CleanPArt'ner DSS2stacja ekstrakcyjna,
która umożliwia wydajne pozyskiwanie cząstek zanieczyszczeń z powierzchni komponentów i przygotowanie ich do dalszej analizy. Rozwiązanie cieszyło się dużym zainteresowaniem ze względu na praktyczne zastosowanie w kontroli procesów produkcyjnych.

📈 SITA Messtechnik GmbHurządzenia do monitorowania skuteczności procesów mycia,
wspierające utrzymanie stabilnych parametrów czyszczenia, pozwalające spełnić najwyższe standardy czystości w branży.

Podczas wydarzenia uczestnicy wymieniali doświadczenia i najlepsze praktyki dotyczące:

poprawy efektywności i powtarzalności analiz czystości w liniach produkcyjnych.

spełniania norm czystości technicznej (ISO/VDA),

wdrażania systemów kontroli jakości komponentów przemysłowych,

integracji mikroskopii elektronowej SEM i analizy optycznej w ramach codziennych procedur kontroli,

Technical Cleanliness Forum potwierdziło, jak ogromne znaczenie ma dziś precyzyjna analiza zanieczyszczeń technicznych w zapewnianiu jakości i niezawodności produktów. Jako PIK Instruments mieliśmy przyjemność zaprezentować światowej klasy rozwiązania, które realnie wspierają naszych klientów w spełnianiu coraz bardziej rygorystycznych wymagań.

Dziękujemy wszystkim uczestnikom za inspirujące rozmowy i duże zainteresowanie prezentowanymi technologiami!

Udostępnij:

MAJ 12

[NOWOŚĆ] Leica Visoria M – Mikroskop materiałoznawczy

Z przyjemnością informujemy, że do oferty PIK Instruments dołączył nowy, innowacyjny mikroskop materiałoznawczy Leica Visoria M – najnowszy przedstawiciel linii mikroskopów Visoria od renomowanego producenta Leica Microsystems. Mikroskop Visoria M to idealne rozwiązanie dla specjalistów pracujących w przemyśle metalowym, elektronicznym, polimerowym oraz w laboratoriach nauk o materiałach. Został zaprojektowany z myślą o codziennej pracy – zapewnia nie tylko wysoką jakość obrazu, ale także wyjątkową wygodę użytkowania. Kluczowe zalety mikroskopu Visoria M: Zwiększona efektywność pracy – dzięki funkcjom z kodowaniem i zoptymalizowanym ustawieniom oświetlenia, Komfort użytkownika – ergonomiczna konstrukcja pozwala na długotrwałą pracę bez nadmiernego obciążenia, Nowoczesna technologia – dostosowana do wymagań współczesnych laboratoriów i linii produkcyjnych. Dzięki Visoria M możesz usprawnić swoje procesy kontrolne i badawcze, a także poprawić komfort codziennej pracy z mikroskopem. Więcej informacji na: https://pik-instruments.pl/mikroskop-materialoznawczy-leica-visoria-m/
MAJ 09

Leica Ivesta 3 – szybka i precyzyjna inspekcja w zasięgu ręki

W dzisiejszym dynamicznym środowisku przemysłowym szybka i wiarygodna inspekcja to podstawa skutecznej kontroli jakości. Odpowiednie narzędzia potrafią znacząco przyspieszyć procesy, minimalizując ryzyko błędów i podnosząc efektywność całego systemu produkcyjnego. Właśnie z myślą o takich zastosowaniach powstała linia produktów Leica Enersight. Leica Ivesta 3 – nowy standard ergonomicznej inspekcji Sercem serii Enersight jest Leica Ivesta 3 – nowoczesne urządzenie łączące zaawansowaną optykę, wysoką głębię ostrości oraz intuicyjną obsługę. To rozwiązanie stworzone z myślą o szybkim i dokładnym obrazowaniu elementów w warunkach produkcyjnych. Co wyróżnia Ivesta 3? Obserwacja bez zakłóceń – wysokiej klasy optyka zapewnia ostry, czytelny obraz nawet przy dużych różnicach głębokości, Wysokorozdzielcza kamera – umożliwia szczegółową dokumentację i pomiary, Wbudowane oprogramowanie – pozwala na pracę bez komputera, co upraszcza i przyspiesza cały proces inspekcji. Dzięki Ivesta 3 proces kontroli jakości staje się nie tylko dokładny, ale też wygodny i wydajny – idealne rozwiązanie dla działów produkcyjnych, kontroli jakości czy laboratoriów inżynieryjnych. Więcej informacji na: https://pik-instruments.pl/mikroskop-stereoskopowy-leica-ivesta-3/
MAR 06

LABS Expo 2025 – spotkajmy się w Poznaniu!

Z ogromną przyjemnością informujemy, że PIK Instruments będzie obecne na LABS Expo 2025 – Targach Wyposażenia i Technologii Laboratoryjnych, które odbędą się w dniach 19–20 marca 2025 w Poznań Congress Center. To jedno z najważniejszych wydarzeń branżowych w Polsce, skupiające ekspertów, naukowców i przedstawicieli firm zajmujących się nowoczesnymi technologiami laboratoryjnymi, badaniami i innowacjami. Co pokażemy na naszym stoisku? Podczas targów zaprezentujemy szeroką gamę urządzeń światowych liderów technologii: Mikroskop Ramana RamanWalk oraz spektrometr FT-IR ALPHA II marki Bruker Optics Mikroskop elektronowy SEM Phenom XL od Thermo Fisher Scientific Mikroskopy optyczne Ivesta i Emspira od Leica Microsystems To doskonała okazja, by z bliska zobaczyć, jak działają te zaawansowane urządzenia, porozmawiać z naszymi specjalistami i poznać najnowsze rozwiązania w dziedzinie mikroskopii, spektroskopii i analizy materiałowej. 📍 LABS Expo 2025📅 19–20 marca 2025📌 Poznań Congress Center🎟️ Rejestracja i bilety: https://labsexpo.pl/ Serdecznie zapraszamy wszystkich zainteresowanych nauką, technologią i nowoczesnymi rozwiązaniami laboratoryjnymi! Do zobaczenia w Poznaniu! 👋
MAR 01

Pierwsza w Polsce instalacja ultramikrotomu Leica Enuity

Z ogromną dumą informujemy o pierwszej w Polsce instalacji ultramikrotomu Leica Enuity, która miała miejsce na Uniwersytecie Mikołaja Kopernika w Toruniu! To wyjątkowe wydarzenie, które podkreśla dynamiczny rozwój technologii przygotowania próbek w mikroskopii elektronowej w naszym kraju. Wspólnie z Łukaszem Remezem mieliśmy zaszczyt przeprowadzić instalację tego przełomowego urządzenia, które na nowo definiuje standardy w przygotowaniu ultracienkich skrawków do mikroskopii transmisyjnej (TEM). To jedno z najważniejszych wydarzeń branżowych w Polsce, skupiające ekspertów, naukowców i przedstawicieli firm zajmujących się nowoczesnymi technologiami laboratoryjnymi, badaniami i innowacjami. Dlaczego Leica Enuity to krok milowy? Inteligentne funkcje „auto” – automatyzacja procesów cięcia i podglądu próbek Wysoka precyzja i powtarzalność – minimalizacja błędów ludzkich Szybkość i wygoda pracy – zoptymalizowane dla użytkowników o różnych poziomach doświadczenia To urządzenie zostało zaprojektowane z myślą o najbardziej wymagających użytkownikach w dziedzinie biologii, medycyny i nauk materiałowych, zapewniając im zupełnie nowy poziom kontroli i efektywności. 📌 Zakup ultramikrotomu został współfinansowany ze środków Unii Europejskiej w ramach projektu:„Integralny Program Wsparcia Kompetencji Kluczowych dla Gospodarki 4.0 studentów i kadry UMK”. Cieszymy się, że jako PIK Instruments mogliśmy wesprzeć ten ważny krok na rzecz rozwoju polskiej nauki i nowoczesnych technologii badawczych. Dziękujemy za zaufanie i gratulujemy całemu zespołowi Uniwersytetu Mikołaja Kopernika! Więcej informacji o Leica Eunity: https://pik-instruments.pl/ultramikrotom-leica-enuity-2/
WRZ 27

Platforma AXON

Platforma AXON- okrzyknięta rewolucją w prowadzeniu badań in-situ, została wzbogacona o kolejne przełomowe narzędzie: AXON Dose. Jest jedynym na świecie systemem, który pozwala na punktowe i precyzyjne monitorowanie dawki wiązki elektronowej na próbce w transmisyjnym mikroskopie elektronowym. Dzięki sprzężeniu dedykowanego uchwytu z systemem Dose i odpowiedniej kalibracji mikroskopu, otrzymujemy kompletne narzędzie, by lepiej zrozumieć, w jaki sposób wiązka wpływa na badany preparat oraz jak dobrać parametry mikroskopu, by nasze eksperymenty dawały powtarzalne i reprezentatywne wyniki. Funkcje, które sprawią, że czas spędzony przy mikroskopie transmisyjnym będzie dobrze wykorzystany, a otrzymane obrazy mikroskopowe będą wolne od artefaktów, obejmują: – wizualizację ekspozycji powierzchni próbki na oddziaływanie wiązki elektronowej za pomocą map cieplnych, – system generowania ostrzeżeń w przypadku przekroczenia określonego przez użytkownika poziomu dawki wiązki elektronowej w wybranym obszarze badanej próbki, – narzędzie do analizy rozmycia refleksów dyfrakcyjnych w celu wykrycia degradacji preparatu i/lub jego kontaminacji, – integrację z oprogramowaniem AXON Studio umożliwiającą szczegółową analizę i obróbkę otrzymanych danych po przeprowadzeniu eksperymentu. Koniecznie obejrzyj film Introducing AXON Dose™ – YouTube i sprawdź jak działa platforma AXON!

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał

Informacje
kontaktowe

Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

 
 

Polityka plików cookie

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn