Leica EM TXP to zaawansowane, wielofunkcyjne urządzenie zaprojektowane do precyzyjnego wycinania, szlifowania i polerowania próbek, dedykowane zarówno do preparatyki dla potrzeb zarówno mikroskopii świetlnej, jak i elektronowej. Innowacyjna konstrukcja Leica EM TXP pozwala na efektywne połączenie kilku kluczowych etapów preparatyki próbek w jednym urządzeniu, co znacząco usprawnia cały proces laboratoryjny.

Dzięki szerokiemu zakresowi dostępnych narzędzi oraz możliwości precyzyjnej regulacji parametrów pracy, Leica EM TXP oferuje wszechstronność w zastosowaniach badawczych i przemysłowych. Wbudowany mikroskop stereoskopowy umożliwia ciągłą kontrolę jakości przygotowywanych próbek, zapewniając wysoką precyzję oraz powtarzalność wyników.

Leica EM TXP doskonale uzupełnia proces wstępnej preparatyki próbek przed etapem szlifowania i polerowania jonowego w urządzeniu Leica EM TIC 3X, wykorzystywanym m.in. w analizach EBSD (dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych). Dzięki synergii obu systemów, możliwe jest uzyskanie idealnie przygotowanych próbek o wysokiej jakości, niezbędnych do precyzyjnych badań materiałowych i krystalograficznych.

Graficzny wyświetlacz LCD

Regulacja prędkości obrotowej frezu w zakresie 300 – 20,000 rpm 

Precyzyjna kontrola skoku przesuwu frezu w kierunku próbki: 100µm, 10 µm, 1 µm i 0,5µm ze wskaźnikiem

Układ szybkiego dosuwania i odsuwania frezu

Regulacja zakresu cięcia

Funkcja automatycznego polerowania

Ramię posuwu frezu zaopatrzone w bezpieczny wyłącznik, osłona frezu oraz odprowadzenie ścinków
z przyłączem dla dostępnych na rynku odkurzaczy.

Dźwignia do ustalenia kątów tworzących piramidę z dwoma pozycjami, oraz możliwość obrotu oraz przechyłu uchwytu próbki dla dwóch osi obrotu próbki w zakresie ± 2 mm oraz 360° obrót z ustalonymi pozycjami co 90°

Układ chłodzenia próbki cieczą

Uchwyt mikroskopu stereoskopowego

Układ regulacji ostrości oraz oświetlacz LED, pozwalający równomiernie oświetlić obszar roboczy