Czystość techniczna pod lupą – relacja z Technical Cleanliness Forum

Obrazek wyróżniający we wpisie na blogu

Data publikacji: 18 maja 2025

Mieliśmy przyjemność wziąć udział w wydarzeniu Technical Cleanliness Forum, które zgromadziło ekspertów, inżynierów jakości oraz przedstawicieli przemysłu zainteresowanych nowoczesnymi metodami analizy czystości technicznej komponentów.

Spotkanie stanowiło doskonałą okazję do zaprezentowania najnowocześniejszych technologii do kontroli zanieczyszczeń stałych, zgodnych z normami ISO 16232 oraz VDA 19.1, które mają kluczowe znaczenie dla jakości i niezawodności procesów produkcyjnych w branżach takich jak automotive, lotnictwo, elektronika precyzyjna, czy produkcja medyczna.

🔬 Co zaprezentowaliśmy?

🧪 ThermoFisher ParticleX TCskaningowy mikroskop elektronowy SEM,
który umożliwia szybkie zliczanie cząstek zanieczyszczeń oraz analizę ich składu chemicznego. To rozwiązanie idealne dla działów jakości i laboratoriów analizujących czystość komponentów technicznych.

🔍 Leica DM6 M Cleanliness Expertmikroskop optyczny do analizy czystości technicznej,
stworzony z myślą o pełnej zgodności z wymaganiami VDA 19 i ISO 16232. Uczestnicy mogli przekonać się, jak intuicyjna obsługa i wbudowane oprogramowanie usprawniają codzienną kontrolę jakości.

💧 CleanPArt'ner DSS2stacja ekstrakcyjna,
która umożliwia wydajne pozyskiwanie cząstek zanieczyszczeń z powierzchni komponentów i przygotowanie ich do dalszej analizy. Rozwiązanie cieszyło się dużym zainteresowaniem ze względu na praktyczne zastosowanie w kontroli procesów produkcyjnych.

📈 SITA Messtechnik GmbHurządzenia do monitorowania skuteczności procesów mycia,
wspierające utrzymanie stabilnych parametrów czyszczenia, pozwalające spełnić najwyższe standardy czystości w branży.

Podczas wydarzenia uczestnicy wymieniali doświadczenia i najlepsze praktyki dotyczące:

poprawy efektywności i powtarzalności analiz czystości w liniach produkcyjnych.

spełniania norm czystości technicznej (ISO/VDA),

wdrażania systemów kontroli jakości komponentów przemysłowych,

integracji mikroskopii elektronowej SEM i analizy optycznej w ramach codziennych procedur kontroli,

Technical Cleanliness Forum potwierdziło, jak ogromne znaczenie ma dziś precyzyjna analiza zanieczyszczeń technicznych w zapewnianiu jakości i niezawodności produktów. Jako PIK Instruments mieliśmy przyjemność zaprezentować światowej klasy rozwiązania, które realnie wspierają naszych klientów w spełnianiu coraz bardziej rygorystycznych wymagań.

Dziękujemy wszystkim uczestnikom za inspirujące rozmowy i duże zainteresowanie prezentowanymi technologiami!

Udostępnij:

LIS 06

Czystość techniczna pod kontrolą – mikroskopia świetlna vs elektronowa 🔍

Analiza czystości technicznej to kluczowy etap w ocenie jakości elementów i komponentów przemysłowych. W PIK Instruments oferujemy kompleksowe badania czystości technicznej z wykorzystaniem mikroskopii elektronowej SEM/EDX oraz mikroskopii świetlnej, które wzajemnie się uzupełniają i pozwalają uzyskać pełny obraz charakterystyki zanieczyszczeń. Mikroskopia świetlna – szybka i precyzyjna analiza cząstek Metoda ta doskonale sprawdza się w analizie cząstek organicznych, takich jak polimery czy włókna naturalne. Pozwala również: określić procent zajętości filtra, zmierzyć wysokość cząstek i włókien, przeprowadzić pełny skan próbki w zaledwie 5–10 minut. Dzięki tym właściwościom mikroskopia świetlna stanowi niezastąpione narzędzie w szybkim i nieniszczącym badaniu próbek.narzędzie do Twoich potrzeb. Mikroskopia elektronowa SEM – analiza w mikroskali Z kolei mikroskopia elektronowa SEM (Scanning Electron Microscopy), wspierana analizą EDX (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy), umożliwia szczegółowe badanie składu chemicznego każdej pojedynczej cząstki. Jej najważniejsze zalety to: wysoka głębia ostrości i rozdzielczość, doskonała wykrywalność cząstek metalicznych i abrazyjnych, precyzyjna identyfikacja pierwiastków obecnych w próbce. Zaawansowane instrumenty pomiarowe Analizy w naszym laboratorium realizowane są przy użyciu: mikroskopu elektronowego ParticleX TC (Thermo Fisher Scientific), mikroskopu świetlnego Leica DM6 (Leica Microsystems). Zastosowanie tych urządzeń gwarantuje najwyższą jakość obrazowania, powtarzalność wyników oraz pełną zgodność z normami branżowymi w zakresie analiz czystości technicznej. 📩 Kontakt z PIK Instruments
LIS 01

Wsparcie dla polskiej nauki, które daje prawdziwą satysfakcję

W ostatnich miesiącach mieliśmy przyjemność współpracować z Nencki Institute of Experimental Biology PAS – najstarszym w Polsce, nieuniwersyteckim instytutem biologicznym, działającym nieprzerwanie od 1918 roku. Projekt obejmował doposażenie infrastruktury do preparatyki SEM, TEM i cryo-TEM, w tym także wdrożenie techniki high pressure freezing, przy wykorzystaniu zaawansowanych rozwiązań Leica Microsystems. Dla nas była to nie tylko realizacja technicznego zadania, ale również dowód zaufania i wspólnej misji — wspierania polskiej nauki w prowadzeniu badań na światowym poziomie. Słowa „jesteśmy zadowoleni”, które usłyszeliśmy od zespołu Instytutu, stanowią dla nas największe potwierdzenie, że zaangażowanie, wiedza i doświadczenie naszego zespołu przekładają się na realne wsparcie środowiska naukowego. Dziękujemy Łukaszowi Remezowi za koordynację projektu oraz wszystkim partnerom i współpracownikom, którzy przyczynili się do jego sukcesu: Hannie Nieżnańskiej, Andrzejowi Szczepankiewiczowi, Fredericowi Leroux, Andreasowi Nowakowi oraz Nikodemowi Szymańskiemu za merytoryczne wsparcie i zaangażowanie. Takie projekty przypominają nam, że największą wartością naszej pracy jest wpływ na rozwój nauki i ludzi, którzy ją tworzą. 🔍 Szukasz rozwiązań dla swojej pracowni? Skontaktuj się z nami, a wspólnie dopasujemy odpowiednie narzędzie do Twoich potrzeb. 📩 Kontakt z PIK Instruments
PAZ 23

Czy naprawdę znasz swoje materiały? My tak – bo widzimy je w mikroskali.

W laboratorium PIK Metrology każdego dnia zaglądamy głębiej – tam, gdzie wzrok nie sięga. Dzięki nowoczesnym technikom mikroskopii świetlnej i zaawansowanym metodom analizy metalograficznej, potrafimy dokładnie określić strukturę materiałów i ich jakość. Dlaczego analiza metalograficzna jest tak ważna? Metalografia to klucz do zrozumienia zachowania materiałów w warunkach eksploatacyjnych. Dzięki niej można: przewidzieć trwałość i niezawodność komponentów. ocenić jednorodność i jakość struktury metalu, wykryć mikropęknięcia, wtrącenia, nieciągłości i defekty, zweryfikować procesy obróbki cieplnej i mechanicznej, Kompleksowy proces badawczy w PIK Metrology W naszym laboratorium oferujemy pełny cykl analizy mikrostrukturalnej: Przygotowanie próbek – precyzyjne cięcie, szlifowanie i polerowanie, Mikroskopia świetlna – obserwacja struktury materiału w wysokiej rozdzielczości, Analiza obrazu – ocena ilościowa i jakościowa mikrostruktury. Dzięki temu dostarczamy rzetelne, powtarzalne i udokumentowane wyniki, które wspierają procesy kontroli jakości oraz badań materiałowych w przemyśle i nauce. analizę morfologii i struktury próbek, badanie składu chemicznego przy użyciu metody EDS, dokładną i szybką analizę materiałów w laboratorium. Zaufaj doświadczeniu! Zespół PIK Metrology to specjaliści z wieloletnim doświadczeniem w badaniach materiałowych.Jeśli potrzebujesz dokładnej analizy, szybkiego terminu realizacji i pełnego wsparcia technicznego – jesteśmy do Twojej dyspozycji. 📩 Więcej informacji na: laboratorium-pik.pl
PAZ 02

Warsztaty z mikroskopii SEM i spektroskopii FT-IR na UMCS – praktyczne doświadczenia dla naukowców

W dniach 22–23 lipca 2025 roku na Wydziale Chemii Uniwersytetu Marii Curie-Skłodowskiej (UMCS) odbyły się warsztaty poświęcone mikroskopii elektronowej skaningowej (SEM) oraz spektroskopii w podczerwieni z transformacją Fouriera (FT-IR). Warsztaty zgromadziły naukowców zainteresowanych praktycznym zastosowaniem nowoczesnych technik analitycznych, pozwalając im zdobyć doświadczenie w pracy z zaawansowanym sprzętem laboratoryjnym. Praca na nowoczesnym sprzęcie Podczas warsztatów uczestnicy mieli okazję pracować na mikroskopie Thermo Scientific Phenom ProX G6 Desktop SEM, który umożliwia: analizę morfologii i struktury próbek, badanie składu chemicznego przy użyciu metody EDS, dokładną i szybką analizę materiałów w laboratorium. Dodatkowo dostępny był spektrometr Bruker Alpha II, pozwalający na szybką i precyzyjną analizę FT-IR, niezbędną w badaniach chemicznych i materiałowych. Interaktywne doświadczenia i wymiana wiedzy Warsztaty były okazją do praktycznej nauki oraz wymiany doświadczeń. Uczestnicy aktywnie angażowali się w eksperymenty i dyskusje, co pozwoliło pogłębić wiedzę z zakresu mikroskopii SEM i spektroskopii FT-IR. Dlaczego warto stosować SEM i FT-IR w badaniach? SEM pozwala badać strukturę i morfologię materiałów z dużą precyzją, co jest kluczowe w naukach materiałowych i chemicznych FT-IR umożliwia szybką identyfikację związków chemicznych, analizę materiałów organicznych i nieorganicznych oraz kontrolę jakości produktów. Dzięki połączeniu tych technik naukowcy mogą uzyskać kompleksową charakterystykę próbek, co znacząco przyspiesza badania i poprawia ich dokładność. 💡 Podsumowanie: Warsztaty SEM i FT-IR na UMCS były doskonałą okazją do praktycznego poznania zaawansowanych technik analitycznych, wymiany doświadczeń i zdobycia wiedzy, którą można wykorzystać w badaniach naukowych i przemysłowych. Fot. Adrian Skubiszewski, UMCS Źródło: https://www.umcs.pl/pl/aktualnosci,53,warsztaty-z-mikroskopii-sem-i-spektroskopii-ft-ir,170218.chtm 📩 Kontakt z PIK Instruments
WRZ 25

PIK Instruments na Międzynarodowych Targach TOOLEX 2025 w Katowicach

W dniach 14–16 października 2025 zespół PIK Instruments będzie obecny na Międzynarodowych Targach TOOLEX w Międzynarodowym Centrum Kongresowym w Katowicach. To jedno z najważniejszych wydarzeń branży przemysłowej, koncentrujące się na nowoczesnych technologiach, metrologii oraz kontroli jakości – kluczowych elementach przemysłu 4.0. Stoisko PIK Instruments – nr 105 Na naszym stoisku spotkacie ekspertów: Jagodę Kaptur, Mateusza Wójcika, Mariusza Ogiermana i Jarosława Michałka, którzy zaprezentują rozwiązania światowych liderów technologii: Leica Microsystems – mikroskopy optyczne i systemy obrazowania Bruker – spektrometria i analiza materiałowa hermo Fisher Scientific – mikroskopy elektronowe SEM/TEM Dr. Heinrich Schneider Messtechnik GmbH – systemy pomiarowe do metrologii Mitcorp – nowoczesne videoskopy LAM PLAN S.A.S. – rozwiązania do preparatyki materiałowej Barrus – urządzenia wspierające jakość procesów produkcyjnych Na TOOLEX 2025 skupimy się na prezentacji urządzeń, które wspierają automatyzację i cyfryzację procesów produkcyjnych, zwiększają efektywność pracy laboratoriów i zakładów przemysłowych oraz pomagają firmom spełniać rosnące wymagania jakościowe. 📅 Szczegóły wydarzenia znajdziesz na stronie organizatora: www.toolex.pl 📩 Kontakt z PIK Instruments
WRZ 10

Powrót Conference on Applied Crystallography – PIK Instruments jako Platynowy Sponsor

Po 7 latach przerwy w malowniczej Wiśle ponownie odbyła się jedna z najważniejszych konferencji w dziedzinie krystalografii – Conference on Applied Crystallography, organizowana przez Uniwersytet Śląski. To wyjątkowe wydarzenie naukowe od 1962 roku łączy badania naukowe, innowacyjne technologie oraz inspirujące dyskusje, otwierając drzwi do nowych odkryć w świecie nauki i technologii materiałowej. Jako Platynowy Sponsor mieliśmy ogromną przyjemność uczestniczyć w tym prestiżowym wydarzeniu i aktywnie wspierać rozwój krystalografii w Polsce i na świecie. Podczas konferencji nasz ekspert, Jarosław Michałek, wygłosił wystąpienie pt.:„Visual and chemical characterisation of solids using Laser-induced Breakdown Spectroscopy (LIBS)”. Dziękujemy wszystkim uczestnikom za cenne rozmowy i inspiracje. Wydarzenia takie jak Conference on Applied Crystallography pokazują, jak ważne jest łączenie nauki i innowacji oraz wspólne poszukiwanie nowych rozwiązań w badaniach nad materiałami. Jeżeli chcesz dowiedzieć się więcej o naszych rozwiązaniach w zakresie Laser-induced Breakdown Spectroscopy (LIBS) lub skonsultować zastosowania technologii w Twojej firmie, zapraszamy do kontaktu: 📩 Kontakt z PIK Instruments

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał

Informacje
kontaktowe

Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

 
 

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn