Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana Aparatura badawcza i przemysłowa ≻ Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana
Zdjęcie produktu Spektrometry FT-IR
Zdjęcie produktu Mikroskopy FT-IR oraz QCL-IR
Zdjęcie produktu Spektrometry FT-NIR
Zdjęcie produktu Spektrometry procesowe FT-IR/NIR
Zdjęcie produktu Spektrometry Ramana
Zdjęcie produktu Mikroskopy Ramana
Zdjęcie produktu Analizatory gazów

Producent:

Tagi:

bruker kontrola jakości spektrometr FT-NIR analiza przemysłowa szybkie pomiary próbek ciekłych i stałych pomiary w wysokim ciśnieniu analiza w czasie rzeczywistym Analizator gazów FT-IR monitorowanie gazów przemysłowych analiza ilościowa związków gazowych mikroskop Ramana szybka akwizycja danych analiza chemiczna 2D/3D obrazowanie topografii powierzchni mikroskop Ramanowski analiza spektralna laboratorium przemysł RamanTouch obrazowanie 3D szybka i zautomatyzowana akwizycja danych analiza chemiczna badania naukowe praca w laboratoriach i przemyśle spektrometr Ramana szybka i czuła akwizycja danych Ręczny spektrometr Ramana szybka identyfikacja surowców analiza materiałów w laboratoriach i przemyśle mikroskop FTIR QCL obrazowanie chemiczne analiza materiałów analiza próbek ciekłych i stałych analizator FT-NIR badania laboratoryjne stałych i gazowych automatyzacja pomiarów mikroskop FTIR analiza próbek ciekłych spektrometr FT-IR badania analityczne i naukowe pomiary wysokorozdzielcze i szybkie analiza próbek w różnych zakresach spektralnych monitoring powietrza gazy cieplarniane środowisko analizator gazów MGA MATRIX-MF Raman spektrometr Ramanowski automatyzacja monitorowanie procesów Process Guardian ATEX/IECEx wysoka czułość i szybka akwizycja danych precyzyjna analiza chemiczna monitoring procesów online/inline laboratoria i przemysł MultiRAM moduł FT-Raman analiza półprzewodników analiza materiałowa spektroskopia Raman analiza procesowa MATRIX-F II INVENIO ALPHA II BEAM analiza gazów MATRIX MG II
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-IR ALPHA II - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-IR INVENIO - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-IR VERTEX - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-IR MATRIX MF - Bruker 
Zdjęcie produktu Mikroskop FT-IR LUMOS II - Bruker
Zdjęcie produktu Mikroskop FTIR QCL HYPERION II - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-NIR TANGO II - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-NIR MPA III - Bruker
Zdjęcie produktu Kompaktowy spektrometr procesowy FT-NIR BEAM – Bruker
1 2 3

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4804600) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

 
 

Copyright © 2026 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn