leica – Strona 2 – PIK Instruments

Telefon

+48 22 726 74 96

Koperta

kontakt@pik-instruments.pl

Lupa

×

3 równoległe linie

Tag: leica

Tagi:

ultramikrotom mikroskopia elektronowa preparatyka próbek UC Enuity leica laboratorium automatyzacja EDS mikroskop SEM/TEM Thermo Scientific mikroskopia materiałowa XL G2 szybkie obrazowanie phenom kontrola jakości mikroskop mikroskop świetlny Ivesta 3 cyfrowy stereoskopowy analiza cząstek Emspira 3 M125 DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej klasyfikacja cząstek analiza czystości technicznej LIBS identyfikacja zanieczyszczeń mikroskop badawczy TEM napylarka niskopróżniowa EM ACE200 TEMLeica sem Analizator wielkości cząstek DLS LDE AMERGIO Cordouan Technologies Analizator potencjału Zeta VASCO KIN VASCO THETIS WALLIS badania in-situ IBSS inspekcja techniczna i kontrola jakości w trudnych warunkach inspekcja rur PRSL300T Mitcorp wideoskop przemysłowy spektrometr FT-NIR analiza przemysłowa szybkie pomiary próbek ciekłych i stałych bruker Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM) Dr. Heinrich Schneider Messtechnik PMS maszyny pomiarowe 3D Projektor pomiarowy 2D Mikroskop pomiarowy multisensorowy X600HD X600 Plus PRM-2830 X3000 analiza składu chemicznego EDS ThermoFisher Scientific analiza próbek w trybie STEM FEG-SEM rutynowe analizy próbek SEM desktop Projektor pomiarowy / maszyna 2D Enuity mikroskop materiałoznawczy Visoria elastyczna aktualizacja Leica Microsystems AFM ultramikrotomia UC skrawki biologiczne skrawki materiałowe mikrotomia innowacyjne narzędzia laboratoryjne. mikroskopia świetlna precyzyjne skrawki powtarzalne wyniki zautomatyzowana mikrotomia modułowa konstrukcja komora mrożeniowa kontrola temperatury komora kriogeniczna mikromanipulatory badania naukowe kriosfera Przenośny spektrometr XRF grubość powłok geologia kontrola RoHS/WEEE analiza żywności i paliw analiza stopów metali Analizator gazów FT-IR monitorowanie gazów przemysłowych analiza ilościowa związków gazowych pomiary w wysokim ciśnieniu analiza w czasie rzeczywistym szybka akwizycja danych analiza chemiczna 2D/3D obrazowanie topografii powierzchni mikroskop Ramana przemysł RamanTouch obrazowanie 3D mikroskop Ramanowski analiza spektralna analiza chemiczna szybka i zautomatyzowana akwizycja danych spektrometr Ramana szybka i czuła akwizycja danych praca w laboratoriach i przemyśle szybka identyfikacja surowców analiza materiałów w laboratoriach i przemyśle Ręczny spektrometr Ramana obrazowanie chemiczne analiza materiałów mikroskop FTIR QCL analizator FT-NIR badania laboratoryjne analiza próbek ciekłych i stałych mikroskop FTIR analiza próbek ciekłych stałych i gazowych automatyzacja pomiarów badania analityczne i naukowe pomiary wysokorozdzielcze i szybkie analiza próbek w różnych zakresach spektralnych spektrometr FT-IR kontrola jakości i badania materiałowe analiza profilu warstw i powłok ocena pierwiastkowa powierzchni przewodzących spectruma spektrometr GDOES próbki przewodzące i nieprzewodzące badania R&D i analiza powłok analiza powierzchni i powłok próbki przewodzące badania materiałowe kontrola jakości i analiza powierzchni badania powłok i profili głębokości przemysł metalurgiczny Steel PhenomXL PerticleX Steel analiza wtrąceń inspekcja w transporcie energetyce i bezpieczeństwie X2000 X750 analizator czystości kąpieli monitorowanie zanieczyszczeń w procesach mycia przemysłowego SITA ConSpector mobilny analizator cząstek kontrola zanieczyszczeń i klasyfikacja cząstek w liniach produkcyjnych i transportowych ParSens 4.0 OMT Solutions kabinety do ekstrakcji zanieczyszczeń kontrola czystości komponentów w branży motoryzacyjnej i lotniczej DSS Cleanpartner pomiar zwilżalności powierzchni metalowych ceramicznych i szklanych Surfaspector pomiar napięcia powierzchniowego i stężenia surfaktantów w kąpielach przemysłowych i laboratoryjnych Dynotester ConnectomX mikrotom ultramikrotom do SEM rekonstrukcja modeli 3D badania biologiczne analiza komórek i tkanek Katana AXON mikroskop TEM Protochips analiza materiałowa CTX 800 spektrometr ręczny do przemysłu wydobywczego farmaceutycznego metalurgicznego spożywczego polimerowego XRF analizator gazów MGA monitoring powietrza gazy cieplarniane środowisko MATRIX-MF monitorowanie procesów Process Guardian Raman spektrometr Ramanowski precyzyjna analiza chemiczna monitoring procesów online/inline laboratoria i przemysł ATEX/IECEx wysoka czułość i szybka akwizycja danych lotniczym kontrola czystości powierzchni i monitorowanie procesów mycia w przemyśle motoryzacyjnym medycznym i elektronicznym Cleanospector MultiRAM Cleanpart'ner Stacja DSR czystość techniczna przecinarka metalograficzna laboratorium materiałowe cięcie próbek sterowanie programowalne posuw automatyczny komora cięcia bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów CutLam 4.0 CutLam 5.0 Lam Plan CUTLAM automatyczna przecinarka LAMPLAN Micro 2.0 przecinarka laboratoryjna cięcie precyzyjne metalurgia Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne CUTLAM 1.1 kontrola jakości metali laboratoria przemysłowe analizator spalania analiza węgla analiza siarki analiza pierwiastków analiza wodoru analiza metali wysoka precyzja G8 GALILEO ONH fuzja gazu ekstrakcja gazów tlen azot automatyczny pomiar wodór analiza ceramiki analiza szkła analiza pierwiastkowa Tracer 5g analiza stopów spektrometr iskrowy Q4 Tasman Q2 Ion analiza geologiczna analiza żywności analiza paliw S1 Titan 800 analiza powłok kontrola zgodności recykling S1 TITAN analiza materiałów geologicznych interfejs analityczny badanie czystości technicznej w przemyśle automotive Particle X ParticleX AM analiza czystości wysokorozdzielcze obrazowanie Axia ChemiSEM mikroskop świetlnyLeica DVM6A mikroskop inspekcyjno-badawczy cyfrowy mikroskop M205 mikroskop stereoskopowy stereoskop M50 M60 M80 pomiary inspekcja przemysłowa A60 F pure szlifierko-polerka MASTERLAM 1.1 polerka automatyczna MASTERLAM 3.0 MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica Lam PlanMASTERLAM 1.0 szlifierko-polarka SMARTLAM 3.0 polerka manualna SMARTLAM 2.0 prasa do inkludowania PRESSLAM 1.1 spektrometr Polo Q4 Q8 MAGELLAN Q6 NEWTON spektroskopia Raman moduł FT-Raman analiza półprzewodników analiza procesowa MATRIX-F II INVENIO ALPHA II BEAM MATRIX MG II analiza gazów Freeze Substitution EM AFS2 mikroskop polaryzacyjny DM4 P DM2700 P DM750 P mikroskopia polaryzacyjna DM500 DM750 DM750M DM750P EZ4 mikroskop edukacyjny mikroskop optyczny edukacja FS M FS C mikroskopia polaryzacyjna porównawcza oprogramowanie kamera mikroskopowa wtrącenia niemetaliczne mikroskop odwrócony DMi8 metalografia oprogramowanie LAS X mikrostruktura DM6 polaryzacyjnaDM4 DM8000 M DM12000 M mikroskop inspekcyjny Poseidon AX analiza in-situ Triton AX stolik tensometryczny Kammrath & Weiss Fusion AX System grzewczy/elektryczny Delong LVEM 25E niskonapięciowy TEM transmisyjny mikroskop elektronowy analiza mikrostruktury EM TIC3X system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego automatyczny procesor tkankowy EM TP Trymer do próbek EM RAPID Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego EM ICE Łamarka do noży szklanych EM KMR3 Urządzenie do witryfikacji EM GP2 LVEM5 Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym EM CPD300 Atmosphere AX System gazowy in-situ napylarka wysokopróżniowa EM ACE600 kontrastowanie kontrastowania ac20 txp preparatyka

Zdjęcie produktu

Mikroskop cyfrowy Leica Emspira 3

Zdjęcie produktu

Mikroskop stereoskopowy Leica Ivesta 3

Zdjęcie produktu

Mikroskop stereoskopowy Leica A60 F

Zdjęcie produktu

Leica EM AFS2 Urządzenie do Freeze Substitution

Zdjęcie produktu

Mikroskopy polaryzacyjne Leica DM750P, DM2700P, DM4P

Zdjęcie produktu

Mikroskopy Leica do badania czystości technicznej

Zdjęcie produktu

Mikroskopy edukacyjne Leica

Zdjęcie produktu

Leica FS M i FS C Mikroskop porównawczy

Zdjęcie produktu

Leica DMi8 Mikroskop odwrócony

Partnerzy

Dwa groty strzał

Dwa groty strzał

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska

Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik

https://micro-shop.pl

Odnośnik

https://laboratorium-pik.pl

Odnośnik

https://mikroskopiaswietlna.pl

Odnośnik

https://mikroskopelektronowy.pl

Odnośnik

https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions