Detektory EBSD e-Flash i eWARP – Bezpośrednia Detekcja Elektronów (DED)
Rewolucyjna bezpośrednia detekcja elektronów (DED) – prędkość mapowania do 14 400 wzorców/s, mapowanie low-kV przy napięciu 10 kV i prądzie 12 nA. Idealne do rutynowej analizy EBSD w mikroskopii SEM.
Detektor EBSD eWARP firmy Bruker wykorzystuje technologię bezpośredniej detekcji elektronów (DED), która rejestruje sygnał elektronów wstecznie rozproszonych bezpośrednio za pomocą materiału półprzewodnikowego sprzężonego z układem scalonym. W przeciwieństwie do detekcji opartej na scyntylatorach, bezpośrednia detekcja oferuje zwiększoną czułość, co umożliwia ultraszybkie pomiary EBSD oraz mapowanie przy niskich napięciach przyspieszających (low-kV).
Cechy charakterystyczne
-
Technologia bezpośredniej detekcji elektronów (DED) – zwiększona czułość, ultraszybkie pomiary EBSD, mapowanie low-kV.
-
Najwyższa efektywność sygnałowa w historii EBSD – piksele o dużej powierzchni i krzemowy sensor zoptymalizowany dla energii elektronów w SEM zapewniają unikalnie wysoką szybkość zbierania sygnału.
-
Idealny do low-kV – zwiększona czułość detekcji umożliwia mapowanie EBSD przy bardzo niskich napięciach przyspieszających.
-
Przechowywanie i powtórna analiza – kompletne dane do powtórnej analizy w dowolnym czasie.
Zaawansowane rozwiązania technologiczne
-
Detektor eWARP – rewolucja w EBSD
Oferuje najwyższą efektywność sygnałową w historii EBSD. Ultraszybka akwizycja map – prędkość do 14 400 wzorców na sekundę. Idealny do rutynowej analizy EBSD przy użyciu mikroskopii SEM.
-
Seria e-Flash – zaawansowana linia detektorów EBSD
e-Flash FS – szybkie pomiary do 945 wzorców/s (grupowanie 8×8) oraz 630 wzorców/s (grupowanie 4×4).
e-Flash HD – wysoka rozdzielczość natywna 1600×1200 pikseli, prędkość 170 wzorców/s, pomiary przy napięciu do 5 kV i prądzie do 0,1 nA. -
Precyzyjne pozycjonowanie
Pozycjonowanie ekranu w pionie w trybie „in situ” dla najlepszej jakości sygnału EBSD. Dokładność pozycjonowania ekranu fosforowego <10 µm. Automatyka wycofuje detektor po zakończeniu pomiarów.
-
System ARGUS™ FSE/BSE
Zintegrowany system obrazowania oferujący średni kontrast atomowy, obrazy o kontraście zakodowanym w kolorze (trzy niezależne detektory) oraz wysoki stosunek sygnału do szumu.
-
Technika TKD (Transmission Kikuchi Diffraction)
Dedykowany uchwyt próbek TKD oraz głowica detektora OPTIMUS™ TKD zapewniają optymalną geometrię dla analizy cienkich próbek i nanomateriałów.
-
Zaawansowane oprogramowanie i integracja z QUANTAX EDS
Automatyzacja konfiguracji, kontrola jakości danych, solidne indeksowanie wzdłuż granic ziaren, unikalne połączenie EBSD i EDS, identyfikacja faz z obszerną bazą danych.
Potrzebujesz detektorów EBSD do swojej mikroskopii SEM?
Skontaktuj się z nami, aby uzyskać szczegółowe informacje o detektorach e-Flash i eWARP, możliwościach konfiguracji i warunkach demonstracji.
Potrzebujesz pomocy w doborze detektorów EBSD?
Nasi eksperci są dostępni od poniedziałku do piątku w godzinach 8:00–16:00
Telefon: +48 22 726 74 96
Email: kontakt@pik-instruments.pl

