Główna różnica polega na zasadzie detekcji i rozdzielczości spektralnej. Detektor WDS wykorzystuje zjawisko dyfrakcji na krysztale do wyizolowania pojedynczej długości fali, co zapewnia znacznie wyższą rozdzielczość (nawet 4 eV dla Si-Kα) w porównaniu do EDS (ok. 120-130 eV). Dzięki temu WDS doskonale radzi sobie z rozdzielaniem nakładających się linii i osiąga dużo niższe granice wykrywalności (poniżej 100 ppm), kosztem dłuższego czasu pomiaru i analizy punktowej.

Zakres ten obejmuje linie charakterystyczne większości lekkich i średnich pierwiastków (od Berylu po Cynk), które są kluczowe w wielu aplikacjach, np. w analizie minerałów, ceramiki, stopów metali lekkich czy materiałów półprzewodnikowych. Wysoka rozdzielczość w tym zakresie pozwala na precyzyjne badanie wiązań chemicznych i stopnia utlenienia poprzez analizę przesunięć i kształtów linii.

Detektor wyposażony jest w sześć różnych kryształów dyfrakcyjnych (200 Å, 80 Å, 60 Å, 30 Å wielowarstwowy, TAP oraz PET). Ich zakresy energetyczne częściowo się pokrywają, co gwarantuje optymalne rezultaty dla każdej aplikacji. Użytkownik może automatycznie przełączać kryształy, aby zawsze pracować z najlepszym możliwym kryształem dla analizowanego pierwiastka, maksymalizując czułość i rozdzielczość.

Integracja w ESPRIT oznacza, że oba detektory (EDS i WDS) są zarządzane z jednego, spójnego interfejsu. Umożliwia to płynne przełączanie między technikami, korelację danych EDS i WDS oraz zaawansowaną analizę ilościową z wykorzystaniem informacji z obu detektorów. To znacząco upraszcza pracę i przyspiesza uzyskiwanie kompleksowych wyników.

Zastosowanie licznika przepływowego z kontrolowanym ciśnieniem zapewnia stabilną i niezawodną akwizycję sygnału. Eliminuje to zniekształcenia związane z fluktuacjami ciśnienia gazu, gwarantując wysoką powtarzalność i dokładność pomiarów w długim okresie czasu, co jest kluczowe przy analizie ilościowej pierwiastków śladowych.