Cechy charakterystyczne

• Największy kąt bryłowy – detektory 7 serii XFlash®7 oferują największy kąt bryłowy zbierania promieniowania rentgenowskiego oraz najwyższą przepustowość.
• Unikatowy detektor FlatQUAD – rekordowe i najszybsze możliwe pomiary EDS przy użyciu pojedynczego detektora EDS, dzięki czterosegmentowej konstrukcji umieszczanej między nabiegunnikiem a próbką, minimalizując efekt cieniowania.
• Zaawansowane algorytmy ilościowe – unikalne połączenie metod wzorcowych i bezwzorcowych zapewnia najwyższą dokładność analizy.
• Najwyższa elastyczność – szeroka gama rozmiarów detektorów (30, 60 i 100 mm²) oraz opcji okienek oferuje idealne rozwiązania do mikro- i nanoanalizy.

Przełomowa wydajność analityczna

• Realna wydajność do 1,000,000 cps

  Umożliwia osiąganie niezwykłej szybkości pomiarów, skracając czas analizy do minimum i zwiększając przepustowość laboratorium.

• Ponad 2,200 linii pierwiastków

  Wykorzystanie najbardziej kompleksowej bazy pierwiastkowej do analizy, wliczając linie K, L, M oraz N, co gwarantuje precyzyjną identyfikację nawet złożonych składów.

• Kąt bryłowy do 1.1 sr

  Zoptymalizowana geometria zapewnia największy na rynku kąt zbierania sygnału z próbki, maksymalizując wydajność detekcji przy niskich prądach wiązki.

• Szeroki zakres wielkości aktywnej detektorów

  30, 60 i 100 mm² powierzchni aktywnej detektora oferuje idealne rozwiązanie dla mikroanalizy oraz wymagającej nanoanalizy.

Unikalny system FlatQUAD

XFlash® FlatQUAD to rewolucyjny, czterosegmentowy detektor umieszczany między nabiegunnikiem SEM a próbką, zapewniający maksymalny możliwy kąt bryłowy:

• Niezrównana wydajność mapowania – nawet dla najtrudniejszych próbek o skomplikowanej topografii.
• Rekordowo szybkie pomiary – najszybsze możliwe pomiary EDS przy użyciu pojedynczego detektora.
• Pełna integracja z oprogramowaniem ESPRIT – w połączeniu z pakietem analitycznym ESPRIT tworzy najbardziej zaawansowany system do analizy EDS.

Specyfikacja techniczna

Technologia Slim-Line

Innowacyjna technologia slim-line została zaprojektowana dla jeszcze większej liczby zliczeń i niższych prądów wiązki:

• Najmniejsza na rynku odległość detektora do próbki – zapewnia maksymalny kąt bryłowy w mikroskopach SEM i FIB-SEM, co przekłada się na wyższą wydajność zbierania sygnału.
• Większa liczba zliczeń przy niższych prądach wiązki – kluczowe dla analizy próbek wrażliwych na uszkodzenia elektronowe oraz przy pracy z wysoką rozdzielczością przestrzenną.
• Kompaktowy design oraz niska waga – ułatwia instalację i nie wpływa negatywnie na mechanikę mikroskopu.
• Wysokoprecyzyjny slider z zintegrowanym silnikiem – umożliwia dokładne i powtarzalne pozycjonowanie detektora.

Doposażenie: ESPRIT 2

System może być rozbudowany o najnowszą wersję oprogramowania:

• ESPRIT 2 – Niezawodne oprogramowanie 4-in-1 dla mikroanalizy – zintegrowana platforma dla EDS, EBSD, WDS i fluorescencji, oferująca zaawansowane narzędzia do kompleksowej charakterystyki materiałów, w tym unikalne połączenie metod bezwzorcowych i opartych na wzorcach.