Phenom ParticleX TC

  • Opis
  • Specyfikacja
  • Doposażenie
  • Materiały eksploatacyjne

Opis

Particle X jest niezależnym dedykowanym interfejsem działającym z wykorzystaniem mikroskopu PhenomXL pozwalającym na badanie czystości technicznej pod kątem norm ISO 16232 i VDA19.

Particle X dzięki połączeniu możliwości mikroskopu Phenom XL oraz dedykowanej stacji roboczej jest w stanie w szybki i niesamowicie precyzyjny sposób zbadać cząstki wyekstrahowane z elementów produkowanych w przemyśle automotive. Rozmiar badanych cząstek wacha się od 500nm do 3mm co daje ogromne pole do działania pod kątem badania zanieczyszczeń i eliminacji ich w procesie produkcji, transportu lub pakowania zapewniając jak najlepsze parametry czystości technicznej. Wyekstrahowane cząstki badane są na ustandaryzowanych filtrach 47mm szeroko stosowanych w analizie czystości technicznej.

Obecność analizatora EDS dostarcza nam informacji o pierwiastkowym składzie zanieczyszczeń, dzięki spersonalizowanym algorytmom interfejs Particle X jest w stanie skategoryzować znalezione cząstki od odpowiednich grup materiałów np. stopy metali, ceramika, tlenki metali jak i również konkretne stopy mogące pochodzić od różnych źródeł zanieczyszczeń – maszyny frezującej lub wycinającej dany element, obrabiarki lub stop metalu pochodzącego z czyszczonego detalu. Jest to nieoceniona pomoc w analizie źródeł zanieczyszczeń i ich szybkiej eliminacji z każdego procesu produkcyjnego.

Mikroskop skaningowy Phenom ParticleX idealnie nadaje się również do standardowego obrazowania SEM gdzie możemy obserwować i badać strukturę próbek. Po bardzo prostym demontażu holdera na sączki otrzymujemy obszar wielkości 100 mm x 100 mm x 65mm wys. który umożliwia na badanie dużych próbek. Po wykonaniu zdjęcia możemy zapisać go w formatach JPEG, TIFF, BMP.

Interfejs Particle X po wykonaniu badań czystości posiada możliwość generowania raportów zgodnych z normami ISO 16232 oraz VDA19. W zależności od wymagań klienta raporty mogą być edytowane i dopasowane konkretnie pod wymagania klienta.

Specyfikacja

  • Łatwy w obsłudze, intuicyjny interfejs użytkownika ustandaryzowany pod kątem VDA 19.1 oraz ISO 16232
  • Czas niezbędny do uzyskania obrazu:
    • Optycznego: 5 sekund
    • Elektronowego: 60 sekund
  • Maksymalne wymiary próbki: 100 mm x 100 mm (65mm wysoka) lub 4 filtry 47mm
  • Powiększenie: od 80 do 100 000x
  • Wyjątkowo łatwa nawigacja próbką do interesującego punktu
  • Obecność kamery CCD która daje perfekcyjną korelację między obrazem optycznym a elektronowym
  • Długi czas życia źródła elektronów CeB6 (średnio 1500 godzin)
  • Źródło elektronów zoptymalizowane pod kątem możliwości osiągania wysokich rozdzielczości – 14nm
  • Katoda CeB6 pracująca z napięciem przyspieszającym 5kV, 10kV, 15kV i 20kV
  • Formaty zapisu obrazów:
    • TIFF
    • JPEG
    • BMP

Mikroskop wyposażony w EDS umożliwiający badanie jakościowe zanieczyszczeń na filtrze

Doposażenie

  • Detektor SED
  • Wkłady na zgłady metalograficzne
  • Oprogramowanie do rekonstrukcji 3D obrazu
  • Oprogramowanie PoroMetric
  • Oprogramowanie FiberMetric
  • Oprogramowanie do mapowania oraz analizy liniowej EDS

Materiały eksploatacyjne

https://micro-shop.pl/produkt/peseta-wafli-typ-34a/

https://micro-shop.pl/produkt/tasma-weglowa/

https://micro-shop.pl/produkt/krazki-weglowe/

Po więcej materiałów eksploatacyjnych zapraszamy do naszego sklepu internetowego Micro-Shop.