leica – Strona 3 – PIK Instruments

Telefon

+48 22 726 74 96

Koperta

kontakt@pik-instruments.pl

Lupa

×

3 równoległe linie

Tag: leica

Tagi:

leica laboratorium ultramikrotom mikroskopia elektronowa preparatyka próbek UC Enuity szybkie obrazowanie phenom kontrola jakości automatyzacja EDS mikroskop SEM/TEM Thermo Scientific mikroskopia materiałowa XL G2 mikroskop mikroskop świetlny Ivesta 3 cyfrowy stereoskopowy DM6 M mikroskop do czystości technicznej analiza cząstek Emspira 3 M125 DM4 LIBS identyfikacja zanieczyszczeń mikroskop badawczy klasyfikacja cząstek analiza czystości technicznej sem TEM napylarka niskopróżniowa EM ACE200 TEMLeica Cordouan Technologies Analizator potencjału Zeta Analizator wielkości cząstek DLS LDE AMERGIO VASCO KIN VASCO THETIS WALLIS badania in-situ IBSS Mitcorp wideoskop przemysłowy inspekcja techniczna i kontrola jakości w trudnych warunkach inspekcja rur PRSL300T bruker spektrometr FT-NIR analiza przemysłowa szybkie pomiary próbek ciekłych i stałych Dr. Heinrich Schneider Messtechnik PMS Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM) maszyny pomiarowe 3D Projektor pomiarowy 2D Mikroskop pomiarowy multisensorowy X600HD X600 Plus PRM-2830 X3000 ThermoFisher Scientific analiza składu chemicznego EDS FEG-SEM analiza próbek w trybie STEM SEM desktop rutynowe analizy próbek Projektor pomiarowy / maszyna 2D mikroskop materiałoznawczy Enuity Visoria mikroskopia świetlna precyzyjne skrawki powtarzalne wyniki zautomatyzowana mikrotomia modułowa konstrukcja komora mrożeniowa kontrola temperatury komora kriogeniczna mikromanipulatory badania naukowe kriosfera elastyczna aktualizacja Leica Microsystems AFM ultramikrotomia UC skrawki biologiczne skrawki materiałowe mikrotomia innowacyjne narzędzia laboratoryjne. analiza stopów metali Przenośny spektrometr XRF grubość powłok geologia kontrola RoHS/WEEE analiza żywności i paliw analiza w czasie rzeczywistym Analizator gazów FT-IR monitorowanie gazów przemysłowych analiza ilościowa związków gazowych pomiary w wysokim ciśnieniu mikroskop Ramana szybka akwizycja danych analiza chemiczna 2D/3D obrazowanie topografii powierzchni przemysł RamanTouch obrazowanie 3D mikroskop Ramanowski analiza spektralna analiza chemiczna szybka i zautomatyzowana akwizycja danych spektrometr Ramana szybka i czuła akwizycja danych praca w laboratoriach i przemyśle Ręczny spektrometr Ramana szybka identyfikacja surowców analiza materiałów w laboratoriach i przemyśle obrazowanie chemiczne analiza materiałów mikroskop FTIR QCL analizator FT-NIR badania laboratoryjne analiza próbek ciekłych i stałych automatyzacja pomiarów mikroskop FTIR analiza próbek ciekłych stałych i gazowych spektrometr FT-IR badania analityczne i naukowe pomiary wysokorozdzielcze i szybkie analiza próbek w różnych zakresach spektralnych spectruma spektrometr GDOES kontrola jakości i badania materiałowe analiza profilu warstw i powłok ocena pierwiastkowa powierzchni przewodzących próbki przewodzące i nieprzewodzące badania R&D i analiza powłok badania materiałowe analiza powierzchni i powłok próbki przewodzące kontrola jakości i analiza powierzchni badania powłok i profili głębokości analiza wtrąceń przemysł metalurgiczny Steel PhenomXL PerticleX Steel X2000 inspekcja w transporcie energetyce i bezpieczeństwie X750 SITA ConSpector analizator czystości kąpieli monitorowanie zanieczyszczeń w procesach mycia przemysłowego ParSens 4.0 OMT Solutions mobilny analizator cząstek kontrola zanieczyszczeń i klasyfikacja cząstek w liniach produkcyjnych i transportowych DSS Cleanpartner kabinety do ekstrakcji zanieczyszczeń kontrola czystości komponentów w branży motoryzacyjnej i lotniczej Surfaspector pomiar zwilżalności powierzchni metalowych ceramicznych i szklanych Dynotester pomiar napięcia powierzchniowego i stężenia surfaktantów w kąpielach przemysłowych i laboratoryjnych Katana ConnectomX mikrotom ultramikrotom do SEM rekonstrukcja modeli 3D badania biologiczne analiza komórek i tkanek analiza materiałowa AXON mikroskop TEM Protochips polimerowego XRF CTX 800 spektrometr ręczny do przemysłu wydobywczego farmaceutycznego metalurgicznego spożywczego środowisko analizator gazów MGA monitoring powietrza gazy cieplarniane MATRIX-MF monitorowanie procesów Process Guardian Raman spektrometr Ramanowski precyzyjna analiza chemiczna monitoring procesów online/inline laboratoria i przemysł ATEX/IECEx wysoka czułość i szybka akwizycja danych Cleanospector lotniczym kontrola czystości powierzchni i monitorowanie procesów mycia w przemyśle motoryzacyjnym medycznym i elektronicznym MultiRAM Stacja DSR czystość techniczna Cleanpart'ner bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów CutLam 4.0 CutLam 5.0 Lam Plan przecinarka metalograficzna laboratorium materiałowe cięcie próbek sterowanie programowalne posuw automatyczny komora cięcia LAMPLAN CUTLAM automatyczna przecinarka metalurgia Micro 2.0 przecinarka laboratoryjna cięcie precyzyjne Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne CUTLAM 1.1 analiza pierwiastków kontrola jakości metali laboratoria przemysłowe analizator spalania analiza węgla analiza siarki analiza wodoru ONH fuzja gazu ekstrakcja gazów tlen azot automatyczny pomiar wodór analiza metali wysoka precyzja G8 GALILEO analiza ceramiki analiza szkła analiza pierwiastkowa Tracer 5g analiza stopów spektrometr iskrowy Q4 Tasman Q2 Ion analiza powłok kontrola zgodności recykling analiza geologiczna analiza żywności analiza paliw S1 Titan 800 analiza materiałów geologicznych S1 TITAN Particle X interfejs analityczny badanie czystości technicznej w przemyśle automotive ParticleX AM analiza czystości ChemiSEM wysokorozdzielcze obrazowanie Axia mikroskop świetlnyLeica DVM6A mikroskop inspekcyjno-badawczy cyfrowy mikroskop M205 mikroskop stereoskopowy stereoskop M80 M50 M60 pomiary inspekcja przemysłowa A60 F pure MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica Lam PlanMASTERLAM 1.0 SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka SMARTLAM 2.0 polerka manualna PRESSLAM 1.1 prasa do inkludowania spektrometr Polo Q4 Q8 MAGELLAN Q6 NEWTON spektroskopia Raman moduł FT-Raman analiza półprzewodników analiza procesowa MATRIX-F II INVENIO ALPHA II BEAM MATRIX MG II analiza gazów EM AFS2 Freeze Substitution mikroskop polaryzacyjny DM4 P DM2700 P DM750 P mikroskopia polaryzacyjna mikroskop edukacyjny mikroskop optyczny DM500 DM750 DM750M DM750P EZ4 FS M FS C mikroskopia polaryzacyjna porównawcza oprogramowanie kamera mikroskopowa edukacja oprogramowanie LAS X mikrostruktura wtrącenia niemetaliczne mikroskop odwrócony DMi8 metalografia DM6 polaryzacyjnaDM4 DM8000 M DM12000 M mikroskop inspekcyjny Poseidon AX analiza in-situ Triton AX Kammrath & Weiss stolik tensometryczny Fusion AX System grzewczy/elektryczny transmisyjny mikroskop elektronowy Delong LVEM 25E niskonapięciowy TEM analiza mikrostruktury EM TIC3X system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego EM TP automatyczny procesor tkankowy EM RAPID Trymer do próbek EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych EM GP2 Urządzenie do witryfikacji LVEM5 Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy EM CPD300 Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym in-situ Atmosphere AX System gazowy napylarka wysokopróżniowa EM ACE600 ac20 kontrastowanie kontrastowania preparatyka txp

Zdjęcie produktu

Leica DM6 M LIBS do badania czystości technicznej

Zdjęcie produktu

Leica DM4 M oraz DM6 M Mikroskopy badawcze

Zdjęcie produktu

Leica DM8000 oraz DM12000 Mikroskopy do mikroelektroniki

Zdjęcie produktu

Leica EM TIC3X Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego

Zdjęcie produktu

Leica EM TP Automatyczny procesor tkankowy

Zdjęcie produktu

Leica EM RAPID Trymer do próbek

Zdjęcie produktu

Leica EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego

Zdjęcie produktu

Leica EM KMR3 Łamarka do noży szklanych

Zdjęcie produktu

Leica EM GP2 Urządzenie do witryfikacji

Partnerzy

Dwa groty strzał

Dwa groty strzał

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska

Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik

https://micro-shop.pl

Odnośnik

https://laboratorium-pik.pl

Odnośnik

https://mikroskopiaswietlna.pl

Odnośnik

https://mikroskopelektronowy.pl

Odnośnik

https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions