System Quantax Micro-XRF

System Micro-XRF, zawierający źródło XTrace promieniowania X, rozszerza możliwości skaningowych mikroskopów elektronowych o funkcjonalność kompletnego spektrometru mikro-XRF. Może on być instalowany w większości mikroskopów SEM posiadających wolny, nachylony port.

W systemie wykorzystano wielokapilarną optykę promieniowania X, która umożliwia generację fluorescencji o wysokiej intensywności na bardzo małych obszarach próbki. Optyka pozwala na zbieranie promieniowania z dużego kąta bryłowego i skupia promieniowanie X w plamce o średnicy do 35 mikrometrów dla promieniowania Mo-K.

Generowane spektrum fluorescencji promieniowania X jest mierzone za pomocą załączonego detektora SDD XFlash® wchodzącego w skład systemu Quantax EDS. Korzystanie z detektora XFlash® umożliwia uzyskanie doskonałej rozdzielczości energetycznej określonej w specyfikacji detektora. Uzyskiwana szybkość zliczeń impulsów dochodzi do około 40 ooo w ciągu 1 sekundy w przypadku analiz prowadzonych na metalach. W detektorze wykorzystywane jest okno aktywne o powierzchni 30 mm².

Wysoka intensywność generowana przez wielokapilarny system optyki i redukcja tła spektrum promieniowania X służą zwiększeniu czułości systemu na pierwiastki śladowe. W porównaniu do wzbudzania pierwiastków przy pomocy elektronów możliwości detekcji zostały poprawione od 20 do 50 razy. Dodatkowo, dzięki temu, że promieniowanie X dostarcza informacji z większej głębokości niż elektrony możliwe jest badanie próbek o większych rozmiarach.

System Quantax EDS zawierający źródło XTrace oferuje możliwość prowadzenia skorelowanych analiz mikro-XRF i EDS za pomocą jednego interfejsu użytkownika zapewniając optymalne rezultaty, które są lepsze niż w przypadku zastosowania każdej z metod oddzielnie.

mikro_XRF

×