Mikroskopy sił atomowych NAIO AFM i STM

naio_afm_i_stm

Mikroskopy sił atomowych NAIO AFM i STM

Mikroskopy sił atomowych NAIO AFM i STM to idealne platformy edukacyjne  o zwartej konstrukcji o niespotykanej wytrzymałości wobec codziennej pracy ze studentami.

W zależności od wersji systemy NAIO umożliwią pracę trybie mikroskopii sił atomowych we wszystkich podstawowych trybach pracy oraz do trybie  skaningowej mikroskopii tunelowej w trybie stałego prądu lub stałej wysokości.

Cechą charakterystyczną mikroskopu jest łatwość obsługi oraz elastyczność układu skanowania. Zakres pomiarowy zależy od wybranej wersji dla NAIO AFM jest to 70 x 70 x 14 µm, natomiast dla NAIO STM wielkość obszaru wynosi 500 x 500 x 200 nm.

Systemy NAIO posiadają kontroler zintegrowany w podstawie mikroskopu, która posiada również samodzielny układ antywibracyjny.

naio_afm_i_stm_specyfikacja

naio_afm_i_stm_zdjecia

×