Mikroskop sił atomowych NaniteAFM

nanite_afm

Mikroskop sił atomowych NaniteAFM

Mikroskop sił atomowych NaniteAFM to idealne rozwiązanie dla przemysłowej kontroli jakości.

Mikroskop NaniteAFM można zintegrować z dowodnym układem zmiany położenia próbki od małych stolików próbki po maszyny na linii produkcyjnej.  System pozwala na obserwacje powierzchni z nanometryczną zdolnością rozdzielczą, która wcześniej była zarezerwowana tylko dla wysokorozdzielczych skaningowych mikroskopów elektronowych.

Cechą charakterystyczną mikroskopu jest łatwość obsługi oraz elastyczność układu skanowania. Zakres pomiarowy zależy od wybranej wersji głowicy 110 x 110 x 22 µm, 70 x 70 x 14 µm lub 10 x 10 x 2 µm  

Mikroskop NaniteAFM dzięki wykorzystaniu technologii automatycznego pozycjonowania sondy (Auto Align) pozwala na pracę nawet niedoświadczonym użytkownikom.

nanite_afm_specyfikacja

nanite_afm_zdjecia

 

×