Mikroskop sił atomowych FlexAXIOM

flexAXIOM

Mikroskop sił atomowych FlexAXIOM

Mikroskop sił atomowych FlexAXIOM to idealna wydajna platforma do badań materiałów inżynierskich. Niskoszumowa wysokorozdzielcza głowica zapewnia najwyższy stosunek wartości dodanej do ceny, natomiast modułowa budowa mikroskopu umożliwia rozbudowę w kierunku zgodnym z realizowanym programem badawczym.

W zależności od aplikacji system FlexAXIOM może zostać skonfigurowany do pracy w temperaturze od -120 do +250°C, w próżni lub w atmosferze gazu obojętnego. System umożliwia również badanie powierzchni materiałów w środowisku kontrolowanym elektrochemicznie na płaskich próbkach oraz na prętach.

Cechą charakterystyczną mikroskopu jest łatwość obsługi oraz elastyczność układu skanowania, która umożliwia pomiary  próbek każdego rodzaju. Zakres skanowania powierzchni wynosi 100 x 100 x 10 µm, z opcją rozszerzenia zakresu w osi Z do 15µm lub nawet 115 µm, dla głowicy FlexAFM 100µm, lub 10 x 10 x 3 µm dla głowicy FlexAFM 10µm, ciekawą opcją jest również możliwość łączenia ze sobą kolejnych obszarów skanowania w celu powiększenia analizowanej powierzchni.

Najnowszy model mikroskopu FlexAFM posiada nowoczesny całkowicie cyfrowy kontroler C3000 umożliwiający osiągniecie pełnej 24 bitowej precyzji sterowania układu skanowania i akwizycji, niezależnie od pozycji oraz zakresu skanowania.

Mikroskop FlexAFM pracuje w oparciu o autonomiczne oprogramowanie C3000, które zawiera standardowe moduły akwizycji danych oraz podstawowe opcje analizy.

Cechą charakterystyczną systemu jest łatwość obsługi oraz elastyczność układu skanowania, która umożliwia  pomiary  próbek każdego rodzaju. Zakres skanowania powierzchni wynosi 100 x 100 x 10 µm, z opcją rozszerzenia zakresu w osi Z do 15µm lub nawet 115 µm.

Najnowszy system FlexANA posiada nowoczesny całkowicie cyfrowy kontroler C3000 umożliwiający osiągniecie pełnej 24 bitowej precyzji sterowania układu skanowania i akwizycji, niezależnie od pozycji oraz zakresu skanowania.

flexAXIOM_specyfikacja

 

flexAXIOM_zdjecia_2

×