Mikroskop sił atomowych FlexANA

flex_ana_bez_tla

Mikroskop sił atomowych FlexANA

Mikroskop sił atomowych FlexANA zapewnia idealną możliwość prowadzenia dokładnej analizy nanomechanicznej w przypadku próbek transparentnych a także nieprzezroczystych. W konfiguracji dla próbek przezroczystych z uwagi na możliwość połączenia z mikroskopem optycznym umożliwia korelację danych AFM z obrazami optycznymi oraz fluorescencyjnymi.

Cechą charakterystyczną systemu jest łatwość obsługi oraz elastyczność układu skanowania, która umożliwia  pomiary  próbek każdego rodzaju. Zakres skanowania powierzchni wynosi 100 x 100 x 10 µm, z opcją rozszerzenia zakresu w osi Z do 15µm lub nawet 115 µm.

Najnowszy system FlexANA posiada nowoczesny całkowicie cyfrowy kontroler C3000 umożliwiający osiągniecie pełnej 24 bitowej precyzji sterowania układu skanowania i akwizycji, niezależnie od pozycji oraz zakresu skanowania.

flexANA_specyfikacj

 

 

software  pierwszy pomiar

ABC

×