Mikroskop sił atomowych AFSEM

Mikroskop sił atomowych AFSEM to unikalna platforma do badań materiałów inżynierskich, pozwalająca na perfekcyjną integrację mikroskopu AFM ze skaningowym mikroskopem elektronowymi. Szybko skanująca, wysokorozdzielcza głowica zapewnia najwyższy możliwy stosunek wartości dodanej do ceny, modułowa konstrukcja systemu umożliwia rozbudowę w dowolnym kierunku, zgodnie z wymaganiami klienta.

System AFSEM może pracować w układzie wolnostojącym a także może zostać zainstalowany wewnątrz komory mikroskopu skaningowego i pracować w warunkach próżniowych typowych dla SEM (<1×10-6 Bar), umożliwia to prowadzenie badań korelatywnych SEM-AFM.

Cechą charakterystyczną głowicy AFSEM jest łatwość obsługi oraz elastyczność układu skanowania, która umożliwia pomiary próbek każdego rodzaju. Zakres skanowania powierzchni wynosi 35 x 35 x 5 µm, szybkość skanowania dla pełnego zakresu pomiarowego to 60Hz, ciekawą opcją jest również możliwość łączenia ze sobą kolejnych obszarów skanowania w celu powiększenia analizowanej powierzchni.

Mikroskop AFSEM posiada nowoczesny całkowicie cyfrowy kontroler C3000 umożliwiający osiągniecie pełnej 24 bitowej precyzji sterowania układu skanowania i akwizycji, niezależnie od pozycji oraz zakresu skanowania.

Badania AFM in situ SEM:

Obrazowanie stopnia rozwinięcia powierzchni próbki, zamontowanej w mikroskopie SEM (Zeiss Leo 982 ) z jednoczesnym obrazowaniem powierzchni przez mikroskop AFSEM.

Badania Korelacyjne SEM-AFM:

Analiza materiałów grafenowych na niepodpartych powierzchniach za pomocą w nisko-napięciowego mikroskopu SEM (A, B), połączona z obrazowaniem mikroskopem sił atomowych (B), obok widoczny jest kontrast mechaniczny(C).

×