Fischione 1061 SEM mill Polerka jonowa SEM (ion polishing system)

Fischione 1061 SEM mill  to system do ścieniania i polerowania próbek do skaningowego mikroskopu elektronowego. Jest to wysokowydajne, kompaktowe urządzenie pozwalające na precyzyjne przygotowanie powierzchni różnorodnych próbek SEM. Zapewnia optymalne parametry polerowania jonowego próbek – zarówno dla potrzeb badań z użyciem technik analitycznych (EDS, WDS), dyfrakcyjnych (EBSD), jak też obrazowania wysokorozdzielczego (HR-SEM).

Właściwości:

  • dwa niezależnie regulowane źródła jonowe typu TrueFocus
  • wysoka energia do ścinania zgrubnego, niska energia do polerowania powierzchni preparatu
  • wiązka jonowa o małej średnicy w całym zakresie energetycznym (od 100eV do 10KeV)
  • klatki Faraday’a do bezpośrednich pomiarów prądów obydwu źródeł
  • regulowany, 10-cio calowy wyświetlacz dotykowy z przyjaznym interfejsem użytkownika
  • niezależne automatyczne sterowanie przepływem gazu źródła jonów
  • łatwe wprowadzanie parametrów polerowania jonowego
  • w pełni automatyczna kontrola oraz sterowanie procesem polerowania
  • automatyczna regulacja optymalnego położenia próbki w osi Z
  • płynnie regulowany kąt natarcia jonów w zakresie 0° do 10°
  • pochył, obrót oraz ruch wahadłowy próbki
  • obserwacja i zapisywanie zdjęć próbek in-situ podczas procesu polerowania
  • mikroskop stereoskopowy do bezpośredniej obserwacji próbki
  • mikroskop o dużym powiększeniu oraz kamera CCD
  • śluza pozwalająca na szybkie oraz łatwe wprowadzenie preparatu
  • opcjonalny stolik chłodzony ciekłym azotem

×