Mikroskop AFM do obrazowania chemicznego VistaScope

Mikroskop sił atomowych do obrazowania chemicznego VistaScope

System VistaScope jest unikalnym mikroskopem AFM z najbardziej otwartym dostępem optycznym do obszaru sonda-próbka.
Kontroler systemu VistaScope wyposażony jest w 4 wzmacniacze typu lock-in które umożliwiają opatentowane badania indukowanej optycznie mikroskopii sił (PiFM) oraz opatentowaną technikę demodulacji w celu stłumienia rozproszonego tła bliskiego pola(s-SNOM). Technika zapewnia doskonałą zdolność rozdzielczą mikroskopii wzmocnioną bliskością sondy, a także ko-lokalizowane pomiary AFM i technik optycznych.

Indukowana optycznie mikroskopia sił (PiFM)
– rewolucyjny sposób na uzyskanie obrazu bliskiego pola poprzez mechaniczną detekcję siły.

sSNOM ze stłumionym tłem
– Wbudowany interferometr i opatentowaną techniką demodulacji, umożliwia zbieranie informacji bez artefaktów z najlepszym współczynnikiem SNR.

Spektroskopia ramanowska ze wzmocnieniem sondą AFM

– Głowica mikroskopu AFM z układem typu tuning-fork jest dostępna do implementacji TERS.

Ultraszybkie badania dynamiki procesu w nanoskali

– Chemia ultraszybkich reakcji.

Konfokalny Raman i fotoluminescencja (PL)

– Ko-lokalizowane pomiary AFM i PiFM sa od teraz bezpośrednie i proste. PL-I i PL-PM są zbierane w różnym czasie w transmisji za pomocą obiektywu (0,9NA) w konfiguracji odwróconej i zintegrowanego zwierciadła parabolicznego (PM), z wykorzystaniem diody lawinowej czułej na pojedyncze fotony (SPAPD). Filtr odcinający służy do zbierania sygnałów z pojedynczej warstwy próbki MoS2.

System VistaScope jest unikalnym mikroskopem AFM z najbardziej otwartym dostępem optycznym do obszaru sonda-próbka.
Kontroler systemu VistaScope wyposażony jest w 4 wzmacniacze typu lock-in które umożliwiają opatentowane badania indukowanej optycznie mikroskopii sił (PiFM) oraz opatentowaną technikę demodulacji w celu stłumienia rozproszonego tła bliskiego pola(s-SNOM). Technika zapewnia doskonałą zdolność rozdzielczą mikroskopii wzmocnioną bliskością sondy, a także ko-lokalizowane pomiary AFM i technik optycznych.

Głowica AFM ze zintegrowanym lustrem parabolicznym

– Zintegrowane paraboliczne lustro o wysokiej aperturze numerycznej (NA) trójowym stoliku slip-stick (z 30 mikronowym ruchem osiach XYZ) umożliwia łatwe boczne oświetlenie/zbieranie i z obszaru sonda-próbka.

Optyczny dostęp z góry, boku i od dołu

– Wysoka apertura numeryczna (NA)pozwala na ko-lokalizowane pomiary dalekiego pola oraz pomiary wzmocnione obecnością sondy w połączeniu z AFM

Stolik skanujący 3D dla układu odwróconego

– Skaner piezoelektryczny dla układu odwróconego umożliwia obrazowanie ze wzmocnieniem obecnością sondy na transparentnych próbkach.

Podwójne sprzężenie zwrotne dla obiektywu immersyjnego

– Kombinacja szybkich i wolnych układów piezoelektrycznych osi Z pozwala na stabilne działanie mikroskopu AFM nawet w połączeniu z obiektywami immersyjnymi.

Wiele portów optycznych

– Dodatkowe porty umożliwiają integrację dodatkowych laserów, detektorów i spektrometrów.

Praca w próżni

– Układ zapewnia możliwość pracy w niskiej próżni i tym samym ofertuje pracę z sondami z wyskokiem współczynnikiem dobroci Q, co zapewnia bardzo czułe pomiary w technikach (FM-PiFM, FM-KPFM, itp.).  Układ zapewnia możność przepłukiwania osuszonym azotem (dry N2.)

Dodatkowe opcje rozbudowy

– Głowica AFM UTV z otwartym dostępem z góry. Głowica AFM FFTF ze skierowanym do przodu układem tunnig-fork Dodatkowy skaner płaski XY o zakresie skanowania 12 x 12 mikronów jest zintegrowany z głowicami, aby zapewnić większą elastyczność prowadzenia badań .

Wydajny i wszechstronny kontroler

– Kontroler VistaScope obsługuje większość standardowych trybów AFM, a dodatkowo multimodalnego AFM, PLL, PiFM, s-SNOM i detektory optyczne/spektrometry.

Głowica AFM z funkcją odchylania wiązki (AFM-BD)

Materiał obudowy: Inwar dla doskonałej stabilności temperaturowej

Profil obudowy: grubość 11mm

Szum detektora AC: <25 fm/kanał HZ powyżej 100kHz

Pasmo detektora: 6 MHz

Źródło lasera BB: 650 nm lub 904 nm

Rozmiar focusa: Regulowany do dostosowania różnych kantileweli włączając ultramałe do obrazowania wysokiej prędkości

Manualny przesuw stolika: 3 mm przesuw XY do zgrubnego ustawiania tipu do zewnętrznego lasera

Moduł szybkiego przesuwu Z: 1 um piezo jako szybki element Z z podwójnym systemem sprzężenia zwrotnego

Tryb działania: środowiskowy lub komórki otwartej cieczy

Komponenty działania: Zintegrowane lustro paraboliczne ze stolikiem zmotoryzowanym piezo 3D do trybu odbiciowego PiFM i s-SNOM

Narzędzie dostrajające głowicy AFM (AFM-FFTF)

Materiał obudowy: Inwar dla doskonałej stabilności temperaturowej

Działanie TF; tryb tappingowy

Manualny przesuw stolika: 3 mm przesuw XY do zgrubnego ustawiania tipu do zewnętrznego lasera

Zintegrowany skaner tipa: Zakrzywiony XY stolik skanera do TF z zakresem 12 um x 12 um

Moduł szybkiego przesuwu Z: 1 um piezo jako szybki element Z z podwójnym systemem sprzężenia zwrotnego

Główna jednostka urządzenia

Zaprojektowany na zamówienie odwrócony mikroskop optyczny ze zwartą i sztywną ramą służy jako platforma do mikroskopii o bardzo wysokiej rozdzielczości.

Odwrócona soczewka obiektywowa: x100, NA 1.4 olej; x60, A 0.9 powietrze

Mechanizm wyrównania tipu: stolik XYZ z napędem typu piezo ( 12 um dla osi XY i 100 um dla osi Z) dla odwróconej soczewki obiektywu do precyzyjnego wyrównania punktu ogniskowania na tipie

Górna soczewka obiektywowa: x20, NA 0.6

Ogniskowanie górnego obiektywu: zmotoryzowane

Oświetlenie: Sterowane programowo LED

Kamera CCD: Współbieżne widoki z góry i odwrócone o rozdzielczości 1280 x 1024 pikseli każda; zoom cyfrowy, panorama i przechwytywanie

Podejście tip-próbka: Automatyczne włączanie za pomocą 3 silników krokowych

Stolik próbki: Precyzyjny zmotoryzowany stolik z zakresem ruchu 6 mm x 6 mm

Maksymalny rozmiar próbki: 25 mm x 25 mm x 5 mm

Szumy systemowe: <50 pm RMS (zależnie od środowiska)

Konfiguracja optyczna: Oparta na standardowym 1-calowym systemie klatkowym dla zwiększenia elastyczności

Moduł bocznej optyki: dostępny jako opcja dla PiFM, rozpraszanie SNOM i TERS na nieprzezroczystych próbkach

Skaner próbki: Skaner etapowy XYZ z zakresem skanowania 30 um x 30 um x 7 um (pętla zamknięta); 40 um x 40 um x 10 um dla pętli otwartej; skaner próbki Z oferowany jako wolny komponent Z podwójnej pętli sprzężenia zwrotnego; inne zakresy dostępne na żądanie

Materiał skanera: Inwar dla doskonałej stabilności temperaturowej

Szumy sensora skanera: 1 nm dla XY z pasmem 40 kHz 0.5 nm dla Z z pasmem 40 kHz

Opcjonalne komponenty: Aktywny stół antywibracyjny dla niskich szumów

Elektronika wysokiej szybkości

Układ elektroniczny oparty na FPGA zawiera sekcję przeznaczoną do mikroskopii sondującej o wysokiej prędkości skanowania.

Szybkość próbkowania:  500 MHz dla kanałów A i B; Kanał A dedykowany do wykrywania fotodiod dla szybkiej mikroskopii AFM

Wzmacniacze Lockin: 4 niezależne 2-fazowe wzmacniacze lockin (LIA0 do LIA3)

Częstotliwość operacji LIA: do 10 MHz

Dużej szybkości generator fal sinusoidalnych: dwa kanały z częstotliwością próbkowania 160 MHz; jeden zarezerwowany dla generatora skanowania do szybkiej mikroskopii  AFM

Tryb wysokiej prędkości sprzężenia zwrotnego: sprzężenie zwrotne z podwójnym sprzężeniem, w którym skaner próbki śledzi wolnozmianą topografię, a moduł Fast-Z w głowicy AFM śledzi szybko zmieniającą się topografię

Maksymalna przepustowość sprzężenia zwrotnego: 1 Mps z podwójnym sprzężeniem zwrotnym Z

Elektronika o standardowej prędkości

ADC: 8X 24-bitowy, 156 kHz; 4X 24-bitowy, 156 kHz

DAC: 8X 24-bitowy 156 kHz; 2X 24-bitowy 156 kHz; 1X20-bitowy, 156 kHz

Sterowanie silnikiem krokowym: 3 kanały

Sterowanie silnikiem DC: 3 kanały z enkoderami i funkcją Schmitt-Trigger dla poprawy jakości sygnału

Wzmacniacze HV: 10 kanałów

Szum podstawy dla skanowania wzmacniaczy HV: 140 uVrms dla pełnego zakresu 150 V.

PiFM i elektronika optyki

Elektronika dla PiFM obejmuje:

Generator sygnału TTL: dwa elastyczne generatory sygnału TTL (z częstotliwością próbkowania 160 MHz) z regulowanym cyklem pracy i przesunięciem DC do modulacji prądu stałego diod laserowych lub do wprowadzania do komórek Bragga

Elastyczne Referencje Lockin: LIA mogą być fazowo zablokowane do dowolnej innej LIA lub na dowolnych obliczonych częstotliwościach z innych LIA

Cyfrowe wejście licznika: Wejście dla APD i PMT dla obrazowania słabo oświetlonego

Komputer

Montowany w obudowie 19 „. Minimalna konfiguracja obejmuje: Quad Core 4 GHz, 4 GB pamięci RAM, 256 GB SSD i połączenie 2000 GB HD, monitor 26 „lub większy, 8 portów USB, Windows 7 Professional

Oprogramowanie VistaScan do akwizycji obrazu

Obsługiwane tryby/funkcje obejmują:

AFM kontaktowe i AC

Komunikaty zwrotne STM i PLL (dla czujników wysokiej Q, takich jak narzędzie dostrajające)

Ultraszybkie sprzężenie zwrotne Dual-Z

Kontrola Q.

Dwumodalne obrazowanie gradientów siły dla liniowego i nieliniowego PiFM

Obrazowanie gradientu sił bocznych (dla KPFM poprzez wykrywanie gradientu siły elektrycznej)

Jednoczesne pobieranie 26 kanałów w konfiguracji Dual-Z i 40 kanałów w konfiguracji Slow-Z

 

Oprogramowanie SurfaceWorks do analiz obrazu

Wydajne i intuicyjne oprogramowanie. zawiera funkcjonalności:

Masek kształtów i histogramów

Funkcje i analizy (spłaszczanie, filtrowanie FFT, analiza linii i regionu, rendering 3D, palety itp.) Zastosowane do obrazu zapisanego jako właściwość pliku wraz z plikiem danych pierwotnych

Skopiuj / Wklej właściwość pliku, aby zastosować te same funkcje i analizę do innych plików obrazów

Funkcja podglądu dla większości funkcji

Obudowa akustyczna

Opcjonalną obudowę akustyczną (30 W x 30 D x 27 H in3) można zamówić z lub bez kontroli temperatury; jest wyposażona w porty do kabli oraz dostęp optyczny

×